二手 HITACHI FB-2100 #293809753 待售
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ID: 293809753
優質的: 2005
Focused Ion Beam (FIB) system
Resolution: 6 nm, 700x to 90,000x
Ion source: Ga ions 1,000 h
Lens system: 2-Stage electromagnetic lens
Astigmatism correction: Octopole electrostatic system
X, Y Detection: Octopole electrostatic system
Blanking: Electrostatic system
Aperture: CPU Controlled system, 7 settings
Processing speed: 1.0 μm/s
Current density: 25 A/cm
Secondary electron detector: Scintilator type detector with photomultiplier amplifier
Power supply: 40 kV
Part number: 410-0191
2005 vintage.
HITACHI FB-2100是一種掃描電子顯微鏡(SEM),配備鏡頭內二次電子(SE2)探測器。當用電子掃描樣品時,它提供了被分析物體的三維視圖。此外,它還可用於測量正在研究的樣品的形狀、大小和曲面拓撲。顯微鏡使用高達30 KV的高張力來加速電子。然後在X-Y階段對標本進行光柵掃描,並借助鏡內SE2檢測器聚焦在樣品表面。SEM的孔徑約為95微米,與二次電子可以達到1.0 nm的分辨率。HITACHI FB 2100還有一個反向散射電子(BE)探測器,使它能夠通過測量樣品表面存在的元素來分析樣品的表面化學性質。在成像能力方面,FB-2100可以捕獲高達4,000倍放大倍率的樣品表面圖像。此外,它還可以對極小的特征進行分析,在高達5,000倍放大倍數的測量時,精度高達0.1 nm。SEM還可以用於自動圖像縫合,允許將捕獲的圖像連接在一起以創建更大的區域映射。掃描輸出的數字數據可以通過專用軟件進行查看、保存和進一步分析。該軟件可幫助用戶識別和分析數據中的功能。總體而言,FB 2100是對材料進行高度精確測量和分析的理想工具。SEM創建3維圖像、高精度測量小特征、分析表面化學的能力在醫療器械、電子等眾多行業都非常關鍵。
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