二手 HITACHI FC100Ⅱ #9217662 待售

HITACHI FC100Ⅱ是一種掃描電子顯微鏡（SEM），能夠精確捕捉納米尺度物體的高分辨率圖像。這種顯微鏡使用聚焦的電子束來掃描和創建被觀測樣品的圖像。然後它以電子方式將信息轉換為數字表單，顯示在隨附的監視器上。FC100Ⅱ的工作範圍為0.7至25 kV，允許用戶選擇所需的成像樣品條件。它的裝置還具有一個最大傾斜角為15度的傾斜臺，用於從不同角度查看樣品。它可以與二次電子探測器、反向散射電子探測器、俄歇電子探測器、X射線探測器等多個探測器配合使用。這些探測器可實現不同類型的成像,包括地形成像、單色成像和合成成像。這種顯微鏡提供了多種功能，以提高其成像能力。利用圖像穩定系統減少樣品漂移的影響，采用自動聚焦控制自動調整電子束焦距，以實現成像的最佳銳度。它還提供了一個可調的樣品傾斜階段，允許用戶通過預設角度傾斜樣品，以提高圖像清晰度。HITACHI FC100Ⅱ配備了一系列軟件來控制和選擇成像參數，例如放大倍率、電流密度和掃描速度。它還具有「衍射圖」功能,允許用戶以不同的光束角度同時捕獲多個圖像,從而簡化對構圖敏感的區分。這個設備有一個直觀的控制界面，使所有技能水平的用戶都能輕松操作顯微鏡。此SEM具有高達8.2毫米的大視野,使其能夠快速獲取大型圖像。它還包含一個獨特的圖像捕獲系統,用戶可以在比其他模型短得多的時間內輕松獲取對象的詳細3D圖像。總體而言，FC100Ⅱ是一種先進的掃描電子顯微鏡，用戶可以利用各種探測器和軟件，以納米尺度捕捉樣品的高分辨率圖像，並具有直觀的控制界面。對於需要精確圖像分析的研究人員來說，這是一個很好的選擇。