二手 HITACHI IS 3200SE #293672029 待售

HITACHI IS 3200SE
製造商
HITACHI
模型
IS 3200SE
ID: 293672029
優質的: 2009
Dark field inspection 2009 vintage.
HITACHI IS 3200SE掃描電子顯微鏡(SEM)是為分析超小型樣品而設計的第五代SEM設備,能夠在廣泛的壓力和溫度條件下實現具有優越光束穩定性和完整性的高分辨率成像。IS 3200SE SEM提供前所未有的自動化、靈敏度、放大倍率、分辨率和清晰度。最先進的偏轉器設計和高級系統技術保證了更大的靈活性和可用性,並提高了成像精度。HITACHI IS 3200SE提供了多種功能,包括樣本量和溫度兼容性、高加速電壓、高級半導體級成像和高保真成像。該單元還包括高級圖像分析功能和全自動采樣階段,以確保準確、精確地獲得所有測量結果。IS 3200SE的高速掃描和高分辨率成像技術使用戶能夠以最高的精確度解析和分析亞微米結構。該機配備了高精度級,造成最小振動,保證了圖像采集的穩定性。以其穩定的性能,HITACHI IS 3200SE是電子衍射、納米加工和納米自制應用的理想選擇。此外,IS 3200SE具有導電試樣級,能夠容納高導電、非磁性試樣,如半導體晶片。該階段還能夠進行穩定的成像和階段掃描,以獲得準確的測量結果。HITACHI IS 3200SE旨在為用戶提供樣品處理和尺寸方面的最大靈活性。它配備了自動化的樣品交換工具,以及各種樣品持有者和配件,以適應各種樣品大小和類型。最後,IS 3200SE允許用戶進行詳細全面的掃描電子顯微鏡。該資產在金屬-氧化物-半導體(MOS)器件制造和材料分析等應用中非常有效。其獨特的設計還允許用戶根據自己的特定需求定制成像參數。總體而言,HITACHI IS 3200SE掃描電子顯微鏡提供了SEM分析的最新技術進步,使用戶能夠實現前所未有的成像精度和靈活性。它是高分辨率成像、復雜測量自動化、電子衍射和納米自發應用的理想選擇。
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