二手 HITACHI NX 2000 #293622849 待售

HITACHI NX 2000
製造商
HITACHI
模型
NX 2000
ID: 293622849
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
HITACHI NX 2000是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供先進的成像、卓越的吞吐量和高的樣品吞吐量。這種SEM將允許用戶觀察從納米級到數百微米的樣品的表面形態和微觀結構。例如,它對檢查半導體晶片特別有利。這種電子顯微鏡具有許多優點,包括各種成像、分析和測量能力、高分辨率能力以及遠距離觀測的大工作距離。較大的工作距離允許觀察較大的樣品,必要時可以交換組件。這臺機器還提供了從100,000X到1,000,000X的廣泛放大倍率。此外,這種掃描電子顯微鏡是一種超高真空裝置,在測量過程中保證無汙染環境。此外,該儀器還提供高性能探測器,具有出色的信噪比和靈敏度。這將使用戶能夠快速獲取更準確、更詳細的圖像。這臺顯微鏡配備了高分辨率的數字成像系統。該系統為用戶提供各種圖像捕獲模式和圖像處理功能。這個單元還能夠自動分析軟件,能夠識別樣品的某些特性,包括厚度和顆粒缺陷。NX 2000中設計的用戶界面提供了一個簡單的計算機控制平臺,使用戶能夠快速設置常規任務的操作。此單元還可方便地訪問用於自定義所需實驗的控件和設置。HITACHI NX 2000是現有最先進的掃描電子顯微鏡型號之一,是材料科學領域研究人員和行業專業人士的絕佳工具。這一單元將對其他電子顯微鏡下看不見的材料的微觀結構提供準確、詳細的視圖。NX 2000的實時交互環境將進一步促進對樣品表面形態和微觀結構進行有效和及時的調查。
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