二手 HITACHI S-3000H #293596949 待售
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ID: 293596949
優質的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten gun
SE Detector: High
EDS Type: LN2
BSE Detector
Magnification range: 300.000x
Operating system:
SEM: Windows NT
EDS : Windows XP
2001 vintage.
HITACHI S-3000H是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於納米級材料的增強性能和超高分辨率成像。它專為半導體和高密度電路應用而設計，為各種樣品提供優化成像。HITACHI S 3000 H具有柱內能量濾波器和提供二次電子和反向散射電子成像的混合成像設備。該系統能夠捕獲材料表面和地下的非常高分辨率的圖像，這些圖像可用於各種應用，包括電氣、電子、化學、冶金和生物醫學研究。S-3000H由四個主要成分組成：掃描電子柱、聚焦透鏡、柱內能量濾波器和檢測器。掃描電子柱利用鋁化樣品室，具有高角度入射電子單元，使設備能夠精確掃描樣品表面。此外，這臺機器還配備了可變的大視野，能夠快速成像和非常穩定的光束形狀。聚焦透鏡針對低像差進行了優化，旨在減少色差和球差。這樣可以確保產生具有最小失真的高分辨率圖像。柱內能量濾波器利用了用於掃描樣品的電子能量。可以控制這種能量來分析樣品表面的不同操作模式，如能量色散X射線光譜分析（EDX）和二次電子成像。這些模式使S 3000 H能夠高精度地可視化和檢查不同組分的組成以及樣品的微觀結構。此外，該探測器能夠檢測樣品表面反向散射的電子，並產生相同的高質量圖像。HITACHI S-3000H還配備了一個非常可調的光學工具，增加了它的精度和分辨率。這種光學資產允許將光斑尺寸從1000 nm調整為10 μ m,景深從5 nm調整為15 μ m。此外，該裝置還能達到高達0.6的數值孔徑，進一步提高了納米級成像系統的精度。柱內能量濾波器、可調光學模型和高級檢測器的組合為HITACHI S 3000 H提供了一個更高的分辨率水平，使其能夠產生分辨率高達一納米的圖像。總之，S-3000H掃描電子顯微鏡提供了非常先進的成像水平，非常適合納米級材料特征的各種研究和分析。其柱內能量濾波器和可調光學設備為S 3000 H提供高達一納米的分辨率，使其成為各種應用中對表面和地下特征進行詳細成像和分析的理想選擇。
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