二手 HITACHI S-3000N #9156366 待售

HITACHI S-3000N
製造商
HITACHI
模型
S-3000N
ID: 9156366
Scanning electron microscope EDAX Currently warehoused.
HITACHI S-3000N是一種執行多種成像任務的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它能夠掃描、成像和處理尺寸小至1.0 nm的材料。顯微鏡的電子槍產生高功率的電子束,然後將其聚焦並掃描整個樣品,生成詳細的虛擬圖像。樣品再暴露於電子束,電子束與樣品中的電子相互作用,產生一個被數字成像系統檢測到的信號。HITACHI S-3000 N有一個內置的掃描系統,使其具有較短的采集和分析時間。它具有數字信號處理器(DSP),與圖像傳感器一起工作,可提供分辨率高達0.3 nm的圖像數據。這允許用戶對標準SEM難以區分的極小特征進行成像和分析。S 3000 N具有廣泛的晶體和納米結構表征能力。其先進的分析功能允許對晶體結構、表面形態和組成信息進行表征。SEM包括一個高分辨率(HR)探測器,它為分析非常小的特征提供了改進的二次電子靈敏度。HR檢測器還提供改善的圖像對比度和深度,允許用戶識別隱藏特征,如裂縫、間隙和劃痕。除了成像功能外,S-3000 N還具有聚焦離子束(FIB)功能。FIB技術使用戶能夠通過離子的直接寫入、蝕刻和沈積來修改和加工樣品表面。這使它們能夠快速清理、修改和表征示例中的精細特征。FIB工具還允許用戶使用能量色散X射線光譜(EDS)分析樣品的光譜和化學成分。S-3000N還帶有各種不同的階段和持有者,從而使用戶能夠為其樣品選擇合適的取向和環境條件。這些階段和持有者包括機動化、三軸(x、y和z)階段,以及旨在最大化SEM效率的低真空階段,允許用戶快速獲取大面積。總體而言,HITACHI S 3000 N是一種先進的掃描電子顯微鏡,可以提供非常小的物體和結構的詳細圖像。它的高放大倍率和廣泛的分析功能使得它成為研究和研究納米世界的科學家的理想選擇。
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