二手 HITACHI S-3000N #9176872 待售
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ID: 9176872
優質的: 2001
Scanning electron microscope (SEM)
Compaq computer for SEM operation:
OS: Windows NT
HP Computer for EDS operation:
OS: Windows 2000 with EDAX
SONY SSM-930 B&W Monitor
Robinson chamber view CCD camera
(2) HITACHI VR16-K Vacuum pumps
FRANKLIN ELECTRIC Electric pump
HASKRIS Chiller
HITACHI SEM Manual
Various spare parts
Flat screen monitor included
Resolutions:
Secondary electron image resolution: 3.5 nm (High vacuum mode)
Back-scattered electron image resolution: 5.0 nm (Variable pressure mode)
Magnification: 15x to 300,000x (65 Steps)
Electron optics:
Filament: Pre-centered tungsten hairpin type
Gun bias: Self-bias + Continuously variable bias
Emission current: 10^-12 to 10^-7 A
Gun alignment: 2-Stage electromagnetic alignment
Condenser lens: 2-Stage electromagnetic condenser
Objective lens: Super conical lens
Objective lens aperture: (4) Opening movable apertures
Stigmator coil: 8-Pole electromagnetic X / Y correction for astigmatism
Image shift: +/- 20 um or more (W.D= 15 mm)
Accelerating voltages:
3.0 to 30 kV (1,171 Steps)
0.3 to 9.99 kV (In increments of 10 V)
10 to 30 kV (In increments of 0.1 kV)
2001 vintage.
HITACHI S-3000N掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的成像和分析設備，設計用於一系列研究和工業應用的卓越性能。該系統結合了一個大腔室，改進了穩定性和屏蔽，以及一系列為仔細、準確的成像、分析和評估而設計的功能。SEM具有5 kV至30 kV的加速電壓範圍，能夠觀察從納米到微觀的樣品特征。樣品室有較大的檢查空間（250 x 250 mm）和先進的、低噪聲的轉盤，用於舞臺旋轉和樣品平移。這些功能提供穩定可靠的性能,使用戶能夠使用更大的視圖字段並觀察復雜的細節。先進的成像單元采用了專利的鎢絲設計和長壽命屏蔽，以保護SEM免受漂移，提高機器的耐用性。此外，該工具保持高分辨率的放大倍率高達5,000X，使其適用於詳細的研究和復雜的樣本。內置軟件還包括一系列工具集，如圖像配準和圖像縫合軟件，允許用戶構建其樣本的3D圖像。利用此功能,用戶可以創建詳細的精確圖像並監控其樣本的表面地形。HITACHI S-3000 N還配備了廣泛的分析能力，包括元素分析和X射線映射。它旨在使用戶能夠對樣本的內部結構和精細細節進行快速、準確的表征。此外,集成的HITACHI E-SEM軟件套件使資產易於使用,因為它簡化了用戶操作,從樣本準備到分析結果報告。此軟件允許用戶高效、輕松地控制模型。總體而言，S 3000 N掃描電子顯微鏡結合了精度和功率，使用戶能夠以最精細的細節觀察和分析他們的樣本。憑借其卓越的屏蔽和卓越的成像能力，這款功能強大的設備是研究人員、工業家和其他從事多種材料工作的專業人士的寶貴工具。
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