二手 HITACHI S-3000N #9208239 待售

製造商
HITACHI
模型
S-3000N
ID: 9208239
優質的: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM) Option: W4010 Water chiller Magnification: 15x to 300000x (143 steps) Resolution: Secondary electron image resolution: 3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode) Back-scattered electron image resolution: 4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode) Voltage: 0.3 - 30 kV Specimen size: 150 mm Diameter maximum View monitor: 17" LCD Type Operation: Mouse and sub control pad PC: PC/AT Compatible Operating system: Windows NT Electron gun: W (Tungsten) Hairpin type Stages: X-Axis: 0 - 100 mm Y-Axis: 0 - 50 mm Z-Axis: 5 - 40 mm Tilt: -5 ~ +60° Rotation: 360° (Non step) Vacuum pumps: (2) Rotary pumps Diffusion pump (2) HITACHI CuteVac VR16L-K Rotary pumps Control system: TV Fast mode TV Flow mode 1-4 Step slow mode Reduce mode Power / Utility: PCW: 1-1.5 liter/min Pressure: 0.5-1 kg/cm³ Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³ AC 100 V, Single phase, 5 kVA within GND 2000 vintage.
HITACHI S-3000N是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於先進的材料研究和分析。顯微鏡配備了高分辨率的平面場光學設備,允許亞微米分辨率。它還采用柱內能量濾波器,允許微調成像參數。該裝置還有一個高電壓電源,精度為0.01伏,允許精確精確的成像。HITACHI S-3000 N能夠同時執行標準和可變壓力樣本查看。高靈敏度二次電子成像和反向散射電子允許觀察樣品表面的各種特征。此外,該裝置與其他成像系統同步,使得進行相關研究成為可能。該裝置配有X射線分析儀,可通過自動優化算法對結果進行分析。這樣可以實現最高質量的SEM成像和樣品分析。此外,顯微鏡包括一個自動級控制系統和一個自動邊緣檢測功能,允許一致和可重復成像。該單元包括一個自動參數優化過程,允許微調成像參數。此外,該設備還與粒度分析軟件集成在一起,能夠快速高效地測量和分析樣品上的特征。總體而言,S 3000N是一種用於材料研究和分析的先進掃描電子顯微鏡.先進的光學和能量濾波機,自動化的參數優化,精確的X射線分析,使這種裝置成為研究各種樣品的有力工具。
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