二手 HITACHI S-3200 #9243691 待售

HITACHI S-3200是一種掃描電子顯微鏡（SEM）.該SEM的最大分辨率為1.5納米,能夠觀察納米級特征。其觀測範圍可擴大至200,000X倍。S-3200配備了反向散射和二次電子探測器（BSD和SED）系統來捕獲樣品中輕元素和重元素的圖像。BSD和SED系統結合了專利的低溫燈絲，允許顯微鏡捕獲低真空信號。這種改進的信號質量和增強的內置測量功能能夠快速測量樣品尺寸,而無需手動調整階段。HITACHI S-3200還具有一個高效的電子光柱，設計用於高放大倍率精確成像樣品。采用由橫桿偏轉器和電極組成的多級冷凝器光學系統，調整光束形狀，使其與樣品對齊。此外，一個磁場已經集成到這個系統中，以消除電子束的任何像差，實現更高分辨率的成像。S-3200的設計包含兩個目標,可實現全面成像。第一個目標是表面檢查的頂視圖目標。它提供了更大的聚焦深度和更好的分辨率,允許自上而下和傾斜成像。第二個目標是兩束BSD目標，設計用於兩束成像和增加信號間隙。HITACHI S-3200還采用了低漂移級設計，以盡量減少觀測過程中的震動和振動。這種設計利用氣動元件和溫度控制的氣流來保持樣品在觀測過程中的穩定。S-3200在各種環境條件下運作。其自動調諧功能可以快速適應不同的溫度/濕度水平，確保在任何時候都能準確運行。HITACHI S-3200還有一個現有的階段設置算法,可在需要時在工作環境之間快速切換。此外,S-3200還提供高級數據采集和分析功能。它支持快速的圖像捕獲、自動化,並具有直觀的圖像管理系統。它還具有3D自動化和圖像處理功能,使檢查納米級樣本特征更加容易。總體而言，HITACHI S-3200是一種先進的掃描電子顯微鏡，設計用於高放大倍率成像樣品。它提供了廣泛的成像功能,包括反向散射和二次電子探測器、低漂移級設計以及高級數據采集和分析。此外,S-3200的自動調諧和舞臺設置算法允許在各種環境條件下進行極其穩定的操作。因此，HITACHI S-3200是納米成像應用的理想選擇。