二手 HITACHI S-3200H #152573 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 152573
晶圓大小: 5"
Scanning Electron Microscope (SEM), 5"
Type: W
IR Chamber scope
STS X-Stream imaging system
Resolution: 3nm at 30kV
Motorized.
HITACHI S-3200H是範圍掃描電子顯微鏡的頂端,設計用於高精度成像和測量各種樣品。它具有一個大型的四象限肖特基野外發射槍,即使在低加速電壓下也能提供高空間分辨率的成像。該槍集成了較低的噪聲設計,減少了背景噪聲,在顯微圖中給出清晰的圖像。顯微鏡由於選擇了二次電子成像和反向散射電子成像(BSE)等成像模式,在許多應用中用途廣泛。二次電子成像使用檢測器收集從樣品表面噴射出來的電子,這是用來激發樣品的一次電子的結果。此模式將詳細顯示曲面特征。BSE允許使用者看到標本的地形,因為較高能量的電子滲透到樣品中,並與原子核相互作用,給出標本組成的指示。S-3200H利用一個並行操作的槍和探測器外殼與三種類型的探測器可提供最終的多功能性。探測器包括小點探測器、掃描傳輸探測器和側向散射探測器。槍柱還采用了最新的電流補償技術,減少了電子束的噪聲,提高了圖像的清晰度。HITACHI S-3200H還通過其能量色散X射線光譜儀(EDX)探測器提供獨特的分析能力來幫助樣品分析。這種裝置能夠收集和分析當初級電子與樣品相互作用時在樣品中產生的X射線信號。它使用戶能夠深入了解樣品信息,並對樣品進行精密的化學分析。最後,樣品持有者可以適合各種樣本類型,用戶可以選擇3個光學階段中的任何一個,以最適合其樣本大小。樣品表高度可以在槍和樣品之間調整,以創建一個平坦的視場,確保實現清晰準確的圖像。總之,S-3200H是一個功能強大、用途廣泛的成像和分析工具,為各種樣品提供高分辨率圖像和化學分析。
還沒有評論