二手 HITACHI S-3200N #293769423 待售

製造商
HITACHI
模型
S-3200N
ID: 293769423
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3200N是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),其設計目的是提供精細、高分辨率的精細結構、表面和材料圖像。顯微鏡利用最先進的成像和操作技術,提供最佳的圖像質量和多功能性。HITACHI S 3200 N是針對大小粒子而設計的。它有多個掃描階段,可以分析大小特征。顯微鏡的特點是有一個大的樣品室,可以從大到小的簡單或復雜的樣品擴大視野,最大樣品尺寸為25毫米。顯微鏡還具有冷凍級選項,用於在低於環境溫度的情況下進行樣品分析。S-3200N具有場發射電子槍與電荷中和技術,消除充電偽影。這一特性提供了改進的非導電試樣對比度和更高的低kV應用放大倍率。此外,電荷中和技術還最大限度地減少了電子束對樣品的幹擾,從而大大提高了穩定性和可重復性。顯微鏡的放大倍數從5倍到500,000倍不等,能夠對納米級樣品進行詳細分析。顯微鏡還采用了集成CCD相機(1.4 MP)的數字成像技術,科學家可以實時查看樣品。集成的圖像處理軟件有助於快速檢測和分析圖像中的新特征。S 3200 N具有高低真空操作能力。分析非導電樣品時采用低真空模式。它有助於減少非導電材料的充電並實現更好的分辨率。HITACHI S-3200N還擁有EDS探測器、X射線映射、離子銑削、加熱級等多種配件,以及用於增強成像能力的附加探測器。HITACHI S 3200 N旨在在苛刻的應用程序中提供強大的分析和卓越的圖像質量。其多種掃描模式和成像技術使其成為材料科學、生命科學、半導體和表面研究的理想顯微鏡。此外,其用戶友好的界面,加上大的樣品室,使其成為各種規模的實驗室的理想儀器。
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