二手 HITACHI S-3200N #9208242 待售
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ID: 9208242
優質的: 1997
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
Secondary electron image resolution:
3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode)
Back-scattered electron image resolution:
4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode)
Magnification: 15x to 300000x (143 steps)
Electron gun:
W (Tungsten)
Hairpin type
Voltage: 0.3 ~ 30 kV
Specimen size: 150 mm dia maximum
View monitor: 17" CRT Type
Auto function:
Start
Gun align
Filament saturation
Focus
ABC
Operation:
Mouse
Sub control pad
Super eucecntric stage:
X-Axis: 0 ~ 32 mm
Y-Axis: 0 ~ 32 mm
Z-Axis: 5 ~ 35 mm
Tilt: -90 ~ 90°
Rotation: 360° (non step)
Vacuum pump:
(2) Rotary pumps
Diffision pump
Control system:
TV Fast mode
TV Slow mode
1~4 Step slow mode
Reduce mode
Rotary pump:
(2) HITACHI CuteVac VR16L-K
Option:
Water chiller HITACHI W4010
Image capture PC
Power / Utility:
PCW: 1~1.5 liter/min
Pressure: 0.5~1 kg/cm³
Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³
AC 100 V, 1 Phase, 5 kVA within GND
1997 vintage.
HITACHI S-3200N是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於探測各種材料的微觀和納米結構。它集成了一個先進的數字掃描設備，具有內置的舞臺和高分辨率探測器，從而產生高圖像對比度，提高圖像分辨率，以及更大的景深。HITACHI S 3200 N包括一個高通量的自動級系統，用於自動可重復的樣品裝載和階段掃描。多種先進的成像技術可與顯微鏡配合使用，包括高對比度二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BSEI）和分析掃描，包括電子色散光譜或能量色散光譜（EDS）。S-3200N允許用戶拍攝具有多種物鏡的高分辨率圖像，放大倍率從0.5到1,000,000倍，工作距離在0-10mm之間。S 3200 N的鏡頭校準單元確保這些圖像真實準確。HITACHI S-3200N具有一整套掃描控制功能,使用戶能夠調整基本的SEM參數以優化圖像采集。采用自動校準程序，確保真空運行最佳。顯微鏡具有抑制噪聲的機器和減少噪聲幹擾量的動態濾波技術。HITACHI S 3200 N的Stage Control Tool實現了以納米為增量的x、y、z軸可重復精度的自動導航。該級還具有傾斜和旋轉功能，允許在x和y軸上進行精確的樣品定位，以及用於表面成像的旋轉樣品定位。S-3200N還包括一個自動計數函數，它可以準確計算用戶定義區域和樣本中的粒子。這有助於分析樣品中的顆粒分布，有助於了解粒徑分布和孔隙度。S 3200 N能夠自動從一個樣本中獲取多個圖像。此函數可用於監視曲面隨時間的變化或創建樣本曲面的完整3 D圖像。顯微鏡還可以連接到PC，用於圖像處理、分析和數據/結果共享。HITACHI S-3200N專為高性能掃描電子顯微鏡而設計,提供各種材料和樣品的高級成像功能。HITACHI S 3200 N具有內置的階段和自動化系統,是精確納米科學研究的理想選擇。
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