二手 HITACHI S-3200N #9394044 待售

HITACHI S-3200N掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能、高分辨率的顯微鏡,旨在為各種樣品提供卓越的成像能力。HITACHI S 3200 N利用二次電子（SE），當聚焦的電子束與物質相互作用時生成。這些電子被用於生成SEM圖像，允許具有出色對比度和細節的高分辨率圖像。通過移動試樣級可以掃描樣品上的電子束，並測量收集到的電子以生成SEM圖像。S-3200N還擁有一系列電子光學元件和選項，可以對各種樣品進行成像。其中包括數字成像選項，包括BS-LED和FN-DFE數字成像系統，以及高透射電子透鏡、發射檢測器和各種反向散射電子檢測器等光學元件。S 3200 N具有自動化的樣品交換功能,能夠快速分析多個樣品。它還包括一個內置3軸電動級的自動化級，允許精確的樣品定位和掃描。HITACHI S-3200N也有「雙列」設計，允許具有極低噪聲級別的高分辨率圖像。此特征還允許優化光束輸出,提供具有焦點、散光和光斑大小控制的均勻光束強度,以優化SEM圖像。HITACHI S 3200 N具有比例積分控制，提供對電磁偏轉電路的精確控制。這允許使用多個電子探測器元件進行同時成像和分析。S-3200N采用原子平坦的樣品制備方法，允許盡可能高的分辨率和低汙染水平。它還提供了濺射塗層、碳蒸發和離子束輔助沈積的選擇，以增加通用性。S 3200 N功率要求低，與替代真空環境高度兼容，使其成為用於各種半導體和生物應用的理想選擇。總體而言,HITACHI S-3200N SEM為各種樣品提供了卓越的成像能力,是科學研究中的寶貴工具。HITACHI S 3200 N具有高分辨率、靈活自動化和原子平坦的樣品制備功能,是研究人員尋求最佳成像的理想選擇。