二手 HITACHI S-3400N Type II #293604796 待售
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ID: 293604796
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDS
Operating system: Windows XP
2010 vintage.
HITACHI S-3400N II型掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高性能、多學科的工具,旨在滿足各種研究和工業應用的需求。S-3400N Type II具有廣泛的成像和分析功能,可提供更強的成像性能和卓越的靈活性,使其成為那些需要高分辨率成像以進行研究和工業實驗的人的寶貴資產。HITACHI S-3400N II型 SEM是一種具有獨特的數字成像和分析設備的高真空二次電子探測器。它采用鏡頭內雙場冷凝器、能量色散X射線探測器和五軸級。該系統可實現對多種材料(包括金屬、陶瓷、半導體和其他材料)的高分辨率成像。S-3400N Type II SEM具有高達720萬 x的高放大倍率範圍,允許用戶清晰準確地查看小細節。四元物鏡提供高分辨率的小粒子和標本成像,視野廣闊。HITACHI S-3400N Type II SEM的高分辨率成像和掃描區域包含一個3-D映射單元,可提供廣泛的自動分析功能。其三維映射機能夠從多個角度獲取圖像,測量樣品的微觀結構。S-3400N Type II SEM具有多種自動化功能,如自動對焦和自動熄滅,可提高效率和生產率。其自動聚焦和自動熄滅功能可實現自動樣品檢查、分析和成像。HITACHI S-3400N Type II還為樣品配備了防撞工具。它可以檢測潛在的碰撞,保護微妙的樣品表面免受潛在的損害。S-3400N II型掃描電子顯微鏡是一種用途廣泛、可靠的分析工具,可用於各種研究和工業應用。其先進的成像和分析功能、廣泛的放大倍率以及全面的自動化功能,使其成為尋求高性能儀器的用戶的理想選擇。憑借增強的成像分辨率和靈活性,HITACHI S-3400N Type II SEM對於需要具有出色功能的高性能成像設備的任何人都至關重要。
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