二手 HITACHI S-3400N Type II #9274230 待售

HITACHI S-3400N Type II
ID: 9274230
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3400N Type II是由HITACHI High Technologies Corporation開發的高度先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。這種儀器及其早期的儀器被用於制作納米技術、半導體制造和材料科學領域的研究級圖像。該系統采用固態電子源設計,該固態電子源提供了一組發射模式,可以在低電流和高電流水平下調整運行。反向散射電子(BSE)探測器也可以配置為在低電流水平下工作時產生高分辨率圖像。該系統還利用了一系列不斷改進的功能和附件,如能量濾波器,該濾波器可提高圖像的對比度和分辨率,同時提供高達2000倍的放大倍數。S-3400N Type II具有非常堅固可靠的設計,適用於研究和商業用途的一系列應用,包括對表面、樣品和相關材料的分析。其場發射槍電子束能夠傳遞低電壓光束到3千伏,從而實現亞微米分辨率圖像。圖像分辨率由非共面掃描透鏡補充,該透鏡確保可以采樣一系列樣品幾何形狀,而不會在過程中引入偽影或損壞樣品。儀器還有一個用於管理樣品環境的自動腔室。這可以包括氣流和壓力,使得與導電和非導電樣品一起工作成為可能。腔室還具有可調冷卻裝置,允許精確的樣品溫度,以提高性能。簡而言之,HITACHI S-3400N II型是一種先進可靠的掃描電子顯微鏡。該儀器具有多種功能和附件,能夠提供最高分辨率的圖像,使研究人員和技術人員能夠以最佳性能進行高端分析。此外,該系統非常堅固可靠,更適合長期使用。
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