二手 HITACHI S-3400N Type II #9328867 待售

HITACHI S-3400N Type II是一種以先進技術設計的掃描電子顯微鏡（SEM），以進行高精度成像和分析。它非常適合廣泛的領域，如生命和材料科學，以及微型和納米電子。此SEM能夠生成分辨率為84 nm的詳細圖像。該儀器具有雙加速電壓，允許其用戶以兩種不同的放大倍數進行成像和分析。S-3400N II型具有用於熱敏樣品成像和分析的溫度室。它可以在5°C至350°C的溫度下運行，使其成為分析半導體基板到納米結構材料的理想工具。加速器鏡頭設計基於Cloverleaf設計，它使用戶能夠對低至0.6 nm的分辨率進行成像和分析。該工具具有低真空視場發射電子槍，用於高對比度成像，低工作距離和噪聲抑制。HITACHI S-3400N II型有一個能量色散X射線探測器和一個256通道EDX系統進行元素分析。該儀器真空性能低，能夠對非導電材料和高導電材料進行分析。它還具有全方位的分析，包括高分辨率成像、熒光信號和能量色散X射線光譜（EDS）。該儀器在功能強大的圖形用戶界面（GUI）上運行,允許用戶輕松操作計算機。用戶可以保存和存儲分析數據以供進一步研究。它還配備了一個樣本圖像庫，允許一個人比較一些記錄的數據。S-3400N Type II具有用於定位和圖像導航的自動校準系統,可幫助用戶正確定位和導航圖像。此高端SEM旨在滿足許多領域的極端成像和分析需求。HITACHI S-3400N Type II憑借其先進的技術、精確的測量以及廣泛的分析能力，是各種研究領域的完美儀器。