二手 HITACHI S-3400N #293602464 待售

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製造商
HITACHI
模型
S-3400N
ID: 293602464
優質的: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) Pump EDS PC Power supply Air receiver HORIBA 7021H FE-SEM 2008 vintage.
HITACHI S-3400N是一種掃描電子顯微鏡,具有卓越的圖像質量和高分辨率,非常適合分析樣品表面。它提供了廣泛的功能,包括3D成像、高級計量和電子反向散射衍射(EBSD)。顯微鏡配備了使用六截面野外發射槍的高端圓柱,以高放大倍率傳遞延伸視場(最大5厘米)。這使操作員能夠以高分辨率分析樣品,使用二次電子成像(SEI)分析高達1.5 nm,使用臨界點幹燥(CPD)成像分析5 nm。HITACHI S-3400 N有4種主要成像模式,可根據樣品要求獲得最佳結果;SEI、CPD、反向散射電子成像(BEI)、電子能量損失光譜(EELS)。在SEI模式下,樣品產生的二次電子被電子探測器檢測出來,用於創建圖像。當需要高分辨率成像時使用CPD模式,在幹燥室內成像樣品以減少汙染。BEI模式從反向散射的電子中創建圖像,這些電子從樣品表面反彈。此模式用於低對比度的樣本,以使更精細的細節可見。EELS模式用於確定樣品的化學成分。這是通過檢測和測量已散射出樣品的電子能量來實現的。這款SEM還增強了多種功能,包括降低像差效果的長工作距離(LWD)透鏡,高能量分辨率的能量濾波器,以及階梯傾斜機構。高分辨率的能量濾波器能夠精確選擇電子的能量,提供更好的分析能力和改進的成像。舞臺傾斜機制允許在視覺上或通過圖表和圖形精確對齊標本。S 3400 N為常規分析和復雜分析提供了完美的平臺,使其成為各種實驗室的好選擇。
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