二手 HITACHI S-3400N #293606248 待售

HITACHI S-3400N
製造商
HITACHI
模型
S-3400N
ID: 293606248
優質的: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) Detector: SE, BSE Detector Rotary pump Air compressor LCD Monitor Zig-zag capture 3D-Viewer Operating system: Windows XP Pro 2007 vintage.
HITACHI S-3400N掃描電子顯微鏡(SEM)是一種流行的儀器,用於成像樣品的微觀或納米尺度結構。顯微鏡使用電子束掃描樣品並成像其表面的細節。這種顯微鏡是一種低真空系統,可以在一系列模式下成像樣品,如二次電子、反向散射電子和X射線。HITACHI S-3400 N在二次電子模式下分辨率為1.3nm,在反向散射電子模式下分辨率為0.2nm。其成像能力為20mm × 20mm,二次電子模式下最大放大倍數為40,000倍,反向散射電子模式下最大放大倍數為400,000倍。電子加速到10kV的能量,能量擴散3.2%。S 3400 N是一個全自動系統,允許舞臺和冷凝器鏡頭的快速輕松調整,以及區域特定的成像和控制分辨率、對比度和亮度。該儀器具有在不同成像模式之間輕松切換的靈活性。S-3400 N提供了擴展的功能,例如帶電和不帶電的二次電子探測器、自動柱頭調整以及視頻顯示和記錄。一個可選的EDS檢測器增加了能量色散X射線光譜(EDS)圖像樣本的能力。S-3400N的優異性能因其易於使用的界面而得到進一步增強,這使得多種掃描模式的操作能夠快速、輕松地進行。用戶友好的軟件包提供了許多方便的功能,例如示例內存、腳本、搜索功能和各種其他自定義選項。總之,HITACHI S 3400 N是掃描電子顯微鏡的絕佳選擇,因為它能夠以各種模式成像各種樣品,具有高分辨率和最大放大倍數。其先進的功能、易用性和出色的成像性能使其成為任何實驗室設置的理想選擇。
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