二手 HITACHI S-3400N #293653432 待售

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HITACHI S-3400N
已售出
製造商
HITACHI
模型
S-3400N
ID: 293653432
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3400N是一種具有場發射槍的掃描電子顯微鏡(SEM),允許對有機和無機樣品進行高分辨率成像和分析。HITACHI S-3400 N包括一個噴槍設備,上面塗有電子散熱層(EBI)塗層,在成像時顯著減少表面充電。這樣可以防止圖像模糊,並允許對高度詳細的樣本進行成像。該槍系統具有出色的分辨率能力,動態範圍為0.2納米,允許無與倫比的清晰的小結構成像。S 3400 N還提供了一系列加速電壓選項,範圍從0.01-20 kV,能夠對各種各樣的樣品進行成像。它還帶有具有粗細增量設計的X-Y級,允許精確的樣品導航和放大。此階段還具有自動返回機制和數字讀出單元,可隨時顯示樣本的精確位置。此外,HITACHI S 3400 N還包括一個鏡頭內探測器,該探測器具有三種放大能力、更高的放大功率、更高的電子累積以及分辨率為1.2 nm的偏振探測器,同時具有X射線和電子靈敏度。這可以產生三維圖像,用於分析樣品的內部表面結構和化學成分。S-3400N配備了10-10 torr以下殘留氣體水平的低真空機和10-11 torr以下殘留氣體水平的超高真空工具。這允許在短時間內建立超高真空,以及顯著減少粒子散射和表面充電。S-3400 N還有一個大腔室,可以進行更精確的樣品放置和操作,一個自動化的操作資產,使用戶能夠保存設置並將其召回以進行快速成像,還有各種各樣的附件和組件選項,可進一步定制SEM以執行特定的成像和分析任務。總體而言,HITACHI S-3400N是一種先進的掃描電子顯微鏡,能夠對有機和無機樣品提供高分辨率圖像和分析,從而能夠對結構特征和化學成分進行詳細分析。HITACHI S-3400 N具有幾個獨特的特點,包括EBI槍模型、強大的鏡頭內探測器和強大的低真空和超高真空設備,確保用戶能夠獲得準確可靠的結果。
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