二手 HITACHI S-3400N #293661076 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 293661076
優質的: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
THERMO SCIENTIFIC Noran System 7 Analyzer
THERMO SCIENTIFIC UltraDry silicon drift X-ray detector
ULVAC GLD-136C Oil-sealed rotary vane vacuum pump
THERMO ELECTRON C10017
2007 vintage.
HITACHI S-3400N掃描電子顯微鏡（SEM）是為先進的科學和工業研究及分析而設計的高性能儀器。它旨在在廣泛的領域運作，包括材料科學、過程控制、生物醫學和半導體研究。HITACHI S-3400 N旨在將最終性能與易於操作相結合。采用半自動化功能可減少樣品準備和分析過程中所需的時間和工作量,而連續測量功能可確保結果的準確性和可重復性。S 3400 N利用掃描電子柱，該電子柱由場發射陰極、0-30kV的加速電壓和允許低真空和低噪聲成像的電弧探測器組成。有了這些組件，設備能夠在50,000X放大倍率和30 kV的加速電壓下達到1.2 nm的分辨率。通過包括一個列內能量色散X射線（EDX）分析系統來加速S-3400N的成像。該EDX分析單元對樣品中發現的元素進行定量測量,從而能夠更全面地了解所研究材料的組成。HITACHI S 3400 N也可用於利用電阻量化器（RQ）評估樣品的形狀和結構。RQ將幾種不同的數字算法與暗場成像相結合，使得對表面浮雕、特征大小和形狀以及其他參數的定量分析能夠以最小的努力進行。為了保證S-3400 N的操作員的安全，該機配備了幾個安全特性。這些功能包括用戶激活的9mm厚鉛合金光束屏蔽,在激活時在SEM柱前滑動,最大限度地減少鏡面反射的隨機X射線輻射,從而造成皮膚損傷。SEM還配備了低噪聲的分流調節器和離子陷阱工具，防止發射的電子逸出，對用戶造成傷害。HITACHI S-3400N還提供了與各種軟件的集成,允許對圖像和EDX測量進行數據處理和分析。此軟件集成允許存儲、處理數據並與各種系統共享數據。為確保HITACHI S-3400 N的最佳性能,建議定期維護。這包括定期清潔真空組件（圖像柱和EDX探測器），以清除任何可能阻礙資產性能的碎片堆積。綜上所述，S3400 N掃描電子顯微鏡提供高性能成像能力，出色的能量色散X射線（EDX）分析能力，並融合了眾多的安全特性。結合易於使用的自動化功能,S-3400N可提高用戶效率並實現研究結果的最佳吞吐量。
還沒有評論