二手 HITACHI S-3400N #293808981 待售
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ID: 293808981
優質的: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM)
Manual
Does not include:
Pump
PC
Cables
2009 vintage.
HITACHI S-3400N是一種掃描電子顯微鏡(SEM),可用於各種應用,包括材料研究、故障分析和生物研究。顯微鏡提供高分辨率成像,能夠分辨出小至0.5納米的特征。它有一個真空室,有助於減少電子散射,提高圖像質量。HITACHI S-3400 N具有單色X射線探測器,可增強光譜分析能力。這使得研究人員能夠對各種尺寸的樣品進行元素、化學和晶體識別分析。該探測器靈敏度很高,能夠檢測到納米範圍內的結構差異。S 3400 N具有雙軸掃描機制,掃描面積大10厘米。這有助於輕松調整采樣區域和圖像的分辨率。高分辨率采集可以檢測樣品與樣品其余部分之間的輕微邊界偏移或差異。顯微鏡還有一個鏡內探測器,即使在低真空或高濕度條件下也能提供高保真圖像。S-3400N有幾種收集圖像的對比度方法,如二次電子成像(SEI)、反向散射電子成像(BEI)、能量色散X射線光譜(EDS)和X射線熒光(XRF)。它還具有源大小控制功能,可實現擴展分辨率和圖像對比度。HITACHI S 3400 N是一種先進的掃描電子顯微鏡,可用於各種研究和分析應用。它提供高分辨率成像和幾種數據收集對比方法。它有一個單色X射線探測器和一個高保真圖像在低真空或高濕度條件下的鏡頭內探測器。它還具有雙軸掃描機制和源尺寸控制功能。S-3400 N具有很高的可靠性和效率,可用於各種材料和生物研究應用。
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