二手 HITACHI S-3400N #293825779 待售

製造商
HITACHI
模型
S-3400N
ID: 293825779
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3400N掃描電子顯微鏡(SEM)是進行高分辨率微觀分析的有力工具。它具有先進的5軸機械級,可容納直徑150毫米、長度170毫米的樣品。它還為3D成像提供了令人印象深刻的景深。此外,HITACHI S-3400 N具有易於使用的觸摸屏界面,具有直觀的控制按鈕和內置冷卻系統,可消除樣品漂移並穩定圖像分辨率。在精度和性能方面,S 3400 N首屈一指。一方面,它利用了一個冷場電子槍,給用戶一個明亮和極其穩定的一次電子束在600V或更少的時候運行。這會產生比任何其他SEM更清晰、更清晰的圖像。此外,S-3400N的特點是具有高靈敏度檢測系統和室外超低真空室,可消除空氣湍流和冷凝。因此,S-3400 N能夠以最小的分辨率損失捕獲精細細節。HITACHI S 3400 N還擁有種類繁多的探測器和軟件包,提供無與倫比的結果。例如,EDAX Genesis軟件提供實時成像以及多組/多元素量化。另外,HITACHI S-3400N的專用Chem-Schottky探測器可以記錄獨特的光譜簽名,以區分感興趣的元素。這種連續光譜允許用戶檢測幾乎任何類型的材料。HITACHI S-3400 N的軟件還包括計算粒子、測量距離和面積以及執行圖像分割以進行全自動測量的功能。總而言之,S 3400 N掃描電子顯微鏡是一種強大的工具,能夠以可承受的價格以無與倫比的效率實現準確的結果。它的5軸機械級、冷場電子槍和先進的軟件保證了任何應用的可靠和可重現的圖像。此外,它的用戶友好界面和直觀的控制按鈕使S-3400N成為實驗室和工業環境的理想選擇。有了S-3400 N,用戶可以期望以無與倫比的準確性和效率獲得持久、可靠和高質量的結果。
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