二手 HITACHI S-3400N #9153016 待售

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製造商
HITACHI
模型
S-3400N
ID: 9153016
優質的: 2007
Variable pressure scanning electron microscope (1) 52E-0012: PC Controlled variable pressure SEM Microscope accessories: (1) 52E-0530: Environmental secondary electron detector (ESED) (1) HTC-IRCS: Hitachi infrared chamber view system including a 9" FPD (1) 52E-0531: Stitching and zigzag software EDS Options: (1) 52E-0540: iEDX Integration package (1) INSEGR: INCA Energy Additional microscope options: (1) 50E-0524: Wehnelt for pre-centered cartridge filament (10) 50E-0240: Pre-centered cartridge filament (1) 52E-0511: Faraday cup device Sample holder options: (1) 52E-4089: Multi sample holder (15x4p) for Type-II P/N: 52E-4918 2007 vintage.
HITACHI S-3400N是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供高分辨率的成像能力,具有優異的信噪比性能。這種先進的SEM適用於廣泛的應用,包括納米級分析、半導體器件制造和表面科學。HITACHI S-3400 N先進的光學設備采用了像差校正的肖特基場發射電子槍,使光束電流達到200 pA,光斑尺寸小於5納米。獨特的高精度掃描機構和專利偏轉器設計保證了圖像的穩定形成,不會造成圖像失真和最小的圖像位移。旋鈕型多模式掃描允許四通八達的平滑掃描,而且易於控制,即使是單指也是如此。S 3400 N標配能量色散X射線光譜(EDS)系統,使元素分析和組成映射成為可能。EDS單元配備了新開發的X-TalTM ultra-thinSDD半導體檢測器,提供卓越的檢測效率和低噪聲性能。動態線掃描功能可實現快速的數字圖像采集和分析,而實時段分析和自動化數字分析則可實現快速、準確的結果。S-3400N的數字數據采集機支持廣泛的數字輸出格式,包括BMP、JPEG、TIFF等常見格式。數字數據采集工具還支持遠程控制,允許從單獨的計算機操作。計算機可以用來控制顯微鏡,捕捉和分析圖像,調整設置,等等。HITACHI S 3400 N旨在提供安全、符合人體工程學的成像環境。顯微鏡被封裝在一個電磁屏蔽外殼中,該外殼減少來自外部來源的幹擾並保護光學資產,還有一個蜂窩狀的圖案櫃,可以抑制振動並保護機器免受外部沖擊。LED照明模型提供一致的照明,有助於消除光學誤差。控制面板操作方便,為用戶提供清晰的反饋,設備配備緊急停止開關,有助於確保安全。HITACHI的S-3400 N掃描電子顯微鏡是一種用途廣泛、可靠的儀器,能夠提供高分辨率的成像和優異的噪聲信號。其先進的成像系統、EDS和數字數據采集功能,以及直觀的人體工程學設計,使其成為尋求突破成像技術界限的研究人員和工程師的絕佳選擇。
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