二手 HITACHI S-3400N #9384953 待售

HITACHI S-3400N是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為廣泛的材料和樣品提供高分辨率的成像和分析能力。它建立在卓越的Advanced Parallel Electron Beam （APE）柱之上，擁有高達10千伏的加速電壓、高達200 pA的束電流和5-200 keV的束能量擴散，允許高精度測量材料的形狀、結構和元素組成。HITACHI S-3400 N利用先進的多極性焦點對準設備（FAS）,以最小的努力校準並保持最佳性能。該系統配備了高精度電子束自動聚焦機構和空氣冷卻單元，使其即使在長時間的觀察期間也能保持功能。此外，這種多功能儀器具有6軸樣品級控制，樣本量在0.2mm至100 mm之間，樣本量可達4kg。S 3400 N的主要優點是具有高分辨率成像能力。它是用一個具有高數值光圈的兩級冷凝器透鏡制造的，使使用者可以觀察到樣品中低至0.2納米的錯綜復雜的結構和細節。此外，機器配備了集成的SE（二次電子）檢測器和高靈敏度的SE檢測器，使用戶能夠以最佳速度從樣品中精確獲取圖像。S-3400N還為研究樣品提供了廣泛的分析能力。它可以獲取分辨率高達0.1%的EDX（能量色散X射線光譜）光譜，以及分辨率高達0.01%的WDX（波長色散X射線光譜）圖。它也可用於EBSD（電子反向散射衍射）觀測，具有四種不同的分析模式，以及表面分析，表面狀態範圍從清潔電流超過1A/cm2到表面電流高達0.002A/cm2的流動敏感樣品。為了為各種應用程序提供最佳性能,HITACHI S 3400 N提供了一系列高級功能。其中包括允許用戶同時觀察樣本的曲面和地下的雙視圖模式,以及允許捕獲樣本的3D曲面圖像的3D模式。此外，儀器先進的成像控制工具使用戶能夠在觀察樣品的同時輕松操縱電子束，以及存儲圖像、設置和其他與觀測有關的數據。簡而言之，S-3400 N是一種先進的掃描電子顯微鏡，具有多種分析和成像功能，使用戶能夠精確地觀察和分析樣品。其先進的FAS資產、高靈敏度探測器、強大的光束能量擴散以及6軸采樣級控制為用戶提供了廣泛應用的最佳性能。