二手 HITACHI S-3500H #9208243 待售

HITACHI S-3500H
製造商
HITACHI
模型
S-3500H
ID: 9208243
Scanning electron microscope (SEM).
HITACHI S-3500H是由HITACHI High-Technologies Corporation開發的掃描電子顯微鏡(SEM)。它提供了高度的成像精度,提供高達0.5納米的分辨率和高達20mm的圖像大小。儀器先進的數字信號處理能力為其卓越的圖像質量做出了貢獻。此外,它的多功能性和先進的技術特性有助於用戶操作,幫助用戶獲得更可靠和準確的數據。該儀器配備了數字信號處理設備和高靈敏度數字成像系統,即使在低放大倍數的情況下也能進行圖像捕獲。對於樣品照射,該單元采用場發射電子槍(FEG)提供高亮度電子束,以提高分辨率和提高對比度。此外,該機器設計易於使用,具有半自動化工具和開放式硬件體系結構,可快速精確地調整目標。這使用戶能夠快速獲得更清晰、更詳細的圖像。在操作過程中,資產包括更多的參數來探索物體或材料的表面地形,而不受環境因素的幹擾。該模型能夠以不同的放大倍數從標本收集光譜信息,從而提供增強的成像能力。這也使用戶能夠識別示例中存在的不同元素。該儀器具有高倍放大能力,能夠有效地分析集成電路和其他精細機械部件上的納米特性成像。該儀器的軟件既具有用戶友好的界面,又配備了先進的控制設備,可為用戶提供廣泛的控制功能,並允許用戶定制參數。此外,該系統還可以使用定量分析方法來生成更高精度的圖像。高級減法模式使用戶能夠去除不必要的偽影和噪聲,提高整體精度。該單元還具有多種自動測量選項,包括但不限於面積、長度和位置測量。SEM還得益於自動化的樣品處理和導航機,它便於快速輕松地交換樣品,大大縮短了設置和操作所需的時間。此外,該工具還與3D顯示器集成在一起,以便於查看復雜的3D樣本結構,從而幫助用戶獲得精確的成像結果。最後,儀器兼容了EDS、EBSD、CLEM等多種配件,讓用戶進一步優化了單元的性能。總之,S-3500H提供了廣泛的功能和能力,以提高成像精度和改善圖像。由於其多功能性和先進的技術,該儀器能夠產生高質量、可靠的圖像,可用於進行復雜的分析。
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