二手 HITACHI S-3500N #9242550 待售

製造商
HITACHI
模型
S-3500N
ID: 9242550
優質的: 1997
Tungsten Scanning Electron Microscope (SEM) With WDX & EDX 1997 vintage.
HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope提供高端成像性能,使研究人員和工程師能夠以前所未有的精確度可視化和分析非常小的粒子。它的光束組合技術提供了卓越的圖像清晰度和分辨率,使用戶可以近距離、詳細地查看樣本。S-3500N還具有多種數字成像功能,包括自動成像、智能光束、圖像縫合、3D重建等。HITACHI S-3500N使用Schimidt相機來獲得其所有的成像能力。這是一種特殊類型的成像方法,產生比傳統SEM性能更高的極其精確的圖像。它使用掃描電子束的組合來實現8位和12位檢測,從而提供令人難以置信的高分辨率,低至每英寸50億點(5納米)。這意味著用戶可以檢查樣品中非常精細的細節。S-3500N使用先進的光學器件提供更高的對比度和亮度,非常適合研究具有挑戰性的材料,如半導體材料或碳纖維。擁有高達18 cm2的大視野和高分辨率圖像,用戶可以輕松捕獲復雜結構的詳細信息。這種掃描電子顯微鏡的亮點之一是能夠在納米水平上精確測量表面地形。這對於獲取非常小樣品的可靠測量數據非常有用。它具有自動級校正和校正算法,以確保精確的測量。HITACHI S-3500N還配備了最新的Smart SEM技術,以確保最大效率和便利,讓用戶自動化工作流程。這包括直觀的用戶界面、自動化的樣本定位和自動化的圖像縫合。憑借其先進的SEM編程能力,S-3500N還可以用於3D重建和自動處理等高級功能。總體而言,HITACHI S-3500N掃描電子顯微鏡對於研究人員和工程師來說是一個非常強大的工具,使他們能夠以前所未有的精確度分析非常小的粒子。它提供了高級成像功能,並允許用戶以更高的分辨率和對比度詳細查看樣本。它還具有多種自動化功能,使復雜的任務變得更容易。
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