二手 HITACHI S-3500N #9291860 待售

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製造商
HITACHI
模型
S-3500N
ID: 9291860
Scanning Electron Microscope (SEM) Nitrogen-cooled by EDAX No cooling unit Scintillator damaged Operating system: Windows XP Resolution: Secondary electron image: 3.0 nm (High vacuum mode) Backscatter electron image: 5.0 nm (Variable print mode, Robinson BSED), 4.0 nm (Variable print mode, YAG BSED) Magnification: 15x to 300000x (65 Steps) Includes: SE BSE ESED EDX Detectors Infrared sample room camera Backing pumps Compressor Electron optics: Filament: Pre-centered tungsten hairpin type Gun bias: Self-bias and stepless bias Frame memory: 2560 x 1920 Pixels.
HITACHI S-3500N是一種廣泛應用的高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於學術和行業研究的廣泛應用。它具有許多特點,非常適合檢查各種材料的微觀結構,包括金屬、聚合物、陶瓷和復合材料。S-3500N SEM的主要功能是生成分辨率高達2.5nm的曲面圖像。SEM利用鎢絲制造出聚焦在被分析樣品上的電子束。然後通過電子探測器收集和檢測反向散射或二次電子,在觀察階段掃描樣品。SEM可用於將圖像放大至30kx。HITACHI S-3500N還配備了能量色散X射線(EDS)探測器,可以對被分析樣品進行元素分析。這種EDS探測器能夠探測到範圍廣泛的元素,包括輕元素如硼和氯,以及重元素如鈾和鉛。然後使用元素分析信息創建元素圖,使研究人員能夠進一步了解材料。S-3500N還具有一系列自動化功能,例如自動聚焦控制和舞臺傾斜校正,使用戶能夠快速獲得清晰的圖像。SEM還有一個自動柱頭,可以進行精確和精確的成像。HITACHI S-3500N SEM的最佳功能是能夠創建低噪聲的極高分辨率圖像。這使研究人員能夠對所研究材料的微觀結構獲得有價值的見解。SEM還具有易於使用的用戶友好界面。總之,S-3500N是一種強大的掃描電子顯微鏡,非常適合分析各種材料的微觀結構。它配備了多項功能,包括自動聚焦和舞臺傾斜校正系統、用於元素分析的能量色散X射線(EDS)檢測器,以及用於精確成像的自動柱頭。HITACHI S-3500N可以創建分辨率高達2.5 nm的圖像,使其成為研究人員尋找詳細結果的完美工具。
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