二手 HITACHI S-3600N #9314101 待售

HITACHI S-3600N是一種具有高性能成像能力的掃描電子顯微鏡（SEM）。它配備了肖特基電子倍增器（SEM）和波長色散X射線探測器，對表面特征和組成產生高分辨率和定量分析。S-3600N的工作距離高達50毫米，這為樣品的觀察和分析提供了極大的靈活性。0.1 kV至30 kV的高張力電壓範圍提供了優越的圖像質量和檢測限制,以便對甚至納米尺度的特征進行詳細分析。HITACHI S-3600N具有較大的樣本量範圍,可容納直徑可達300 mm的樣本量。柱內能量濾波器最多可容納10 μ s/通道停留時間，因此即使是極小的粒子也能被探測和觀察到。S-3600N具有全方位的成像模式,可以對標準和復雜的表面特征進行成像。二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BSEI）、反向散射電子衍射（BED）、X射線發射、電子束感應電流（EBIC）和電子束光譜（EBS）都可以用於標準的、非破壞性的表征。HITACHI S-3600N利用了一系列探測器，其中包括二次電子探測器、多個X射線探測器、能量濾波器和用於EBSD的陣列探測器。這些探測器提供了對表面特征如晶體結構和化學成分的定量分析。S-3600N的高真空室是低維護和產生低噪聲和電子束軌跡穩定性的圖像。內置的振動阻尼系統可降低圖像的不穩定性,並提供高分辨率圖像,而無需額外對齊。它具有EasyBeam鏡頭對準功能，允許用戶快速準確地將電子束對準樣品。HITACHI S-3600N通過大型10.4英寸明亮液晶顯示器、一鍵式操縱桿控制和Ez-Navigation熱鍵提供方便操作。它采用高速英特爾至強處理器和最先進的電子設備,可提供可靠可靠的操作。S-3600N提供了令人印象深刻的高級特性和成像能力的組合,使其成為材料科學研究中電子成像和表面分析的理想選擇。該系統為高分辨率成像應用提供了強大而經濟的解決方案。