二手 HITACHI S-3700N #293797824 待售
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ID: 293797824
優質的: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM)
OXFORD X-Max 80mm² EDX
2009 vintage.
HITACHI S-3700N是一種用於高分辨率亞微米成像的掃描電子顯微鏡(SEM)。它具有溫度穩定和振動穩定的超高真空柱設計,非常適合微米級和亞微米級分辨率。該SEM利用經典的反向散射和二次電子檢測器進行優化,以提供最大的圖像對比度和圖像分辨率。HITACHI S 3700 N利用數位影像處理能力,提供額外的影像對比度和色彩增強。S-3700N還設計了高加速電壓,使其能夠獲得更高分辨率的圖像,而不會損壞細膩樣品。其高壓成像能力,加上低噪聲性能和先進的數字圖像處理,使其能夠捕捉到不同類型材料的高度詳細的圖像。S 3700 N還具有自動化的舞臺選項,以簡化獲取地形的過程。此功能允許用戶以較少的用戶輸入快速掃描樣本的大面積區域。該系統還具有自動聚焦功能,使用戶能夠獲得較小的生物或化學樣本的圖像,並具有較高的詳細程度。HITACHI S-3700N還利用先進的成像技術,如掃描透射電子顯微鏡(STEM)在某些樣品中提供額外的對比度。駐波顯微鏡也可用於精確測量樣品內部的表面結構。同時對SEM和STEM進行成像,使用戶能夠快速輕松地獲取同一樣本的地形和組成圖像。為了提供額外的便利功能,HITACHI S 3700 N配備了改進的性能攝像頭,可同時捕捉暗場和明場圖像。其高級軟件提供用戶友好的圖形用戶界面(GUI),以幫助組織和分析獲取的數據。系統軟件還能夠自動化數據分析和處理,使用戶能夠高效率地分析樣本。S-3700N廣泛應用於故障分析、半導體器件分析、材料科學和生物研究等領域。憑借先進的成像能力和先進的軟件,S3700 N是這些研究領域研究人員的理想工具。
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