二手 HITACHI S-3700N #293819963 待售

HITACHI S-3700N
製造商
HITACHI
模型
S-3700N
ID: 293819963
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3700N是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),能夠產生分辨率為0.5納米的超細細節視覺圖像。它使用強大的電子槍發射聚焦的電子束,掃描樣品表面,產生高分辨率的電光圖像。HITACHI S 3700 N配有多收集器計算機控制設備和各種軟件包,以確保準確、清晰的圖像。此SEM使用0.3mm聚焦孔徑與可變壓力(VP)級相結合的可變壓力樣本操作。可變壓力級允許用戶調整樣品對電子束的暴露,以便觀察不同深度和細節水平。S-3700N還能夠進行二次電子成像(SEI)和鏡頭內檢測(ILD)。SEI通過檢測樣品表面特征反射的電子,產生更高分辨率的表面細節圖像。ILD產生小至10 nm的曲面特徵影像。S 3700 N配備了自動掃描控制系統,允許用戶選擇自己喜歡的掃描模式、放大倍率和曝光時間。根據用戶的需要,此單元可以產生靜態(固定)或動態(可調節)圖像分辨率。SEM還包括一臺自動聚焦機,最多可存儲15個放大設置。HITACHI S-3700N需要高真空環境和溫度控制環境才能有效地產生圖像。其最大加速度電壓30kV,能夠產生尺寸在1mm至3mm之間的樣品圖像。此外,顯微鏡可以處理各種材料的有機和無機樣品,包括金屬和合金。HITACHI S 3700 N有多種圖像分析軟件包的選項,可用於測量角度、面積和距離。自動計數、自動模式識別和自動3D重建等功能進一步增強了顯微鏡進行詳細分析的潛力。這些特征可以提供有關表面組成、結構和電子擴散的信息。總體而言,S-3700N是一個裝備特殊的SEM,具有強大的電子束,多集計算機控制工具和各種圖像分析軟件。它可以產生尺寸在1mm到3mm之間的樣品的高分辨率圖像,並且能夠分析角度、區域和距離,以及自動3D重建。這個SEM非常適合研究人員和專業人士尋找一個強大和可靠的掃描電子顯微鏡。
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