二手 HITACHI S-4100 #9215897 待售

HITACHI S-4100
製造商
HITACHI
模型
S-4100
ID: 9215897
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4100是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於在廣泛的應用中提供多種功能。它具有專門設計的光學柱,以及最先進的數字成像和圖像處理。它非常適合各種任務,包括表面地形、晶體結構、尺寸和形狀確定、缺陷分析和失效分析。S-4100的最先進的光學柱由一個場發射槍(FEG)和一個用於選擇電子束樣品相互作用體積的高分辨率SEM冷凝器透鏡組成。FEG允許在高達30 kV的任何加速電壓下優化電子束,並在解決小特性和細節方面表現出色。改進的對準系統進一步提高了SEM冷凝器透鏡的性能,提供了最佳對準,沒有任何調整元件。HITACHI S-4100配備了廣泛的影像選項。這些包括差分圖像對比度(DIC)、組合光電子顯微鏡(OEM)、二次電子(SE)成像、反向散射電子(BSE)以及能量色散X射線光譜分析。還提供了晶束分析(CBA)、反向散射診斷模式(BDM)、同步掃描二次電子檢測系統(SSEDS)等專門成像技術。S-4100還提供了高級圖像處理功能。這些功能可用於詳細測量、晶體學檢查和創建可用於支持組件表征的3D重建圖像。圖像處理器內置的3D模型功能可實現復雜材料和實體的可視化。HITACHI S-4100的高速偏轉器掃描能力提供了高達600毫米/秒的掃描速率,使得成像速度比傳統掃描方法更快、更清晰。此外,可定制的環境室也可用於確保即使在最具挑戰性的環境中也能對樣品進行可靠和可重復的分析。S-4100是為了滿足現代工程和研究的需要而設計的。它具有高級成像和超高速掃描功能、強大的圖像處理功能以及高級光學組件的獨特組合,是眾多應用程序的理想選擇。
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