二手 HITACHI S-4200 #9288014 待售

HITACHI S-4200是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於分析各種材料，特別是結構較小且特征密集的材料。這款SEM配備了高分辨率、放大成像設備，可將物體放大到400,000倍，成像分辨率為1.2納米。HITACHI S 4200結合了強大的電子光學和檢測系統，以及種類繁多的兼容樣品級。可供S-4200的各種樣品階段允許分析各種樣品類型，包括半導體樣品、納米級物體、生物細胞和材料分數。對於成像樣品，S 4200具有二次電子探測器、反向散射電子探測器和可選的X射線能量色散探測器單元。HITACHI S-4200的二次電子探測器允許同時獲取放大的二次電子圖像，分辨率高達1.2納米。二次電子檢測器還可用於執行具有自動聚焦功能的自動SEM成像。HITACHI S 4200的反向散射電子探測器允許在低放大倍率下進行表面成分分析，分辨率為10納米。S-4200具有獨特的自動采樣功能,可以在多個樣本持有者之間自動移動樣本,從而獲得最大的舒適性和便利性。自動取樣功能提高了實驗室測試的效率，同時也節省了時間，減少了人為錯誤。S 4200還提供了一個可選的納米探針光譜模塊，使用戶能夠高精度地映射樣品的電子能量損失光譜（EELS）。HITACHI S-4200還允許使用聚焦離子束（FIB）銑削技術,該技術提供了收集對樣品有效且微創的樣品的理想方法。HITACHI S 4200還配備了HITACHI的幾個軟件系統，如3DViewer、3DReconstruction和材料分析機（MAS）。這些軟件包提供了用於分析示例的多種功能,包括3 D成像功能、對比度增強、自動圖像縫合以及許多其他功能。總體而言,S-4200是一個功能強大且用途廣泛的SEM,可用於各種科學研究和工業應用。它的能力提供了對微觀世界前所未有的洞察力,並使科學家和工程師能夠以前所未有的細節探索和了解物理宇宙。