二手 HITACHI S-4300 #9164240 待售
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ID: 9164240
優質的: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
Manual stage system
Operating system: Window NT
Secondary electron image resolution:
1.5 nm or better at 15 kV
5.0 nm or better at 1 kV
Operating system: Windows NT
Magnification: 20x, ~5,000,000x
Accelerating voltage: 0.5, ~30 kV (Variable at 0.1 kV/step)
Image shift: ±3 μm (W.D=30 mm)
Image navigation: Standard for motor drive stage
Specimen thickness: 17 mm
Specimen size through airlock: 100 mm diameter
Specimen stage:
Stage / Standard stage / Large stage
X / 0~25 mm / 0~100 mm
Y / 0~25 mm / 0~50 mm
Z / 5~30 mm / 5~35 mm
R / 360° / 360°
T / -5~+45° / -5~+60°
Electron optics:
Electron source: Cold field emission electron source
Objective aperture: Heated type
Detectors:
Secondary electron detector
YAG BSE Detector (option)
Take-off angle for EDX spectrometer: 30°
CRT Display language: English
PC, OS: PC/AT Compatible, windows
Operation: Mouse, keyboard and function rotary knobs
Viewing monitor: 17" LCD
Automated functions:
Auto-focus
Auto-stigmation
Auto-brightness and contrast
Auto-start
Auto-photo modes
Image processing:
Image manager software
Raster rotation
Frame memory:
640 x 480 pixels
1,280 x 960 pixels
2,560 x 1,920 pixels
Image filing: Built in image data base with search functions
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Auto data display:
Accelerating voltage
Magnification micron marker
Micron value
Film number
W.D
Date / Hour
Photo magnification
Detector
Vacuum system: Full automated system with pneumatic valves
Attainable vacuum:
~10-7 Pa (Electron gun)
~10-4 Pa (Sample chamber)
Vacuum pumps:
IP: 60 l/s x 1, 20 l/s´2
DP: 570 l/s 1
RP: 140 (168) l/min x 2 for 60 Hz
Protection system: Power, water and vacuum failures
Includes:
Windows base control system: Diffusion pump
Chiller
(2) Rotary pumps
Missing part: SDD Detector
1999 vintage.
HITACHI S-4300代表高分辨率單色掃描電子顯微鏡。該設備操作簡單、生產率更高、環境影響小。它是各種分析和研究應用的絕佳掃描儀。該模型具有最大40kV的可調加速電壓，分辨率為1.8nm，最適合高分辨率成像和元素分析。該顯微鏡還使用單色儀來選擇所需的電子波長，以使背景噪聲最小化，並改善成像中的對比度。這種掃描電子顯微鏡的電子光學元件被設計為確保最佳、高效的性能，同時消除不必要的噪聲。樣品室用抽水系統進行氮氣凈化，以保持較高的真空水平。這些因素大大降低了樣品汙染和降解的機會，同時提供了高分辨率掃描能力。此外,HITACHI S 4300還具有高靈敏度轉換電子檢測器（HS-CED）,它提供卓越的信噪比性能,可提高圖像分辨率和對比度。此外，該裝置還有一個電噴電離模塊（ESI），可用於二次離子質譜（SIMS）。這些數據對於更詳細地分析樣品材料極為寶貴。最後，S-4300提供了一個可用於大面積成像或原位成像的傾斜階段。此功能允許操作員查看比標準靜態成像更大的區域；這對於尋找較小的粒子或從多個角度研究樣品的結構很有用。總體而言,S 4300在掃描電子顯微鏡方面提供了卓越的性能。其可調電壓、高分辨率成像能力和信噪比性能,確保了各種研究和分析應用的準確而有力的結果。傾斜樣品支架進一步增強了儀器大面積成像的能力。該裝置非常適合材料科學成像、質量控制和納米技術研究。
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