二手 HITACHI S-4500 Type II #9230775 待售

ID: 9230775
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4500 Type II是一種具有成像和分析兩種應用的掃描電子顯微鏡(SEM)。高分辨率SEM利用電子槍產生電子束,然後將電子束聚焦到樣品表面上,從而能夠觀察表面特征、元素分布和組成映射。還可以詳細觀察樣品特征與其環境之間的對比。HITACHI S-4500 TYPE-II具有場發射槍(FEG)電子源,產生能量範圍為10 kV至30 kV的電子束。然後利用這種能量掃描樣品表面,分辨率為0.17nm,在非導電樣品上檢測到0.1nm,在導電樣品上可能有亞納米分辨率。SEM中不同的電子探測器測量樣品的二次電子、反向散射電子和反射電子,提供豐富的樣品信息,如地形、組成和鍵類型。為了進行分析,S-4500 II型配備了兩臺能量色散X射線光譜儀(EDS)和兩臺波長色散X射線光譜儀(WDS)。利用這些光譜儀,可以檢測和詳細分析樣品的元素組成和晶相。SEM還能夠檢測、測量和繪制樣品特性,如電導率、接觸電位差和表面電荷。樣本的分析以二維顯示感覺和已識別元素的數值顯示。此外,S-4500 TYPE-II利用其環境系統確保安全的樣品觀測。為了防止外部影響,SEM配備了真空室、冷凍泵單元、可選的氣體入口系統、樣品加熱器和放大倍數調整,以確保樣品分析的安全和穩定。HITACHI S-4500 II型掃描電子顯微鏡利用其掃描電子束和多個連接的光譜儀,能夠對樣品表面進行高效成像和分析,即使在亞納米分辨率下也能提供有關地形、元素組成和相位的寶貴數據。環境控制系統進一步有助於對樣品進行安全和精確的分析,確保準確和可靠的數據。
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