二手 HITACHI S-4700 II #293592008 待售

HITACHI S-4700 II
製造商
HITACHI
模型
S-4700 II
ID: 293592008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) Option: EDX.
HITACHI S-4700 II是一種頂級掃描電子顯微鏡,可為各種應用程序提供強大的成像功能。它提供了高度的精確度和分辨率,允許在納米級對物體進行詳細的可視化。HITACHI S 4700 II采用頂置差分透鏡內檢測器,可對樣品表面進行高質量的二次電子(SE)、反向散射電子(BSE)和透射電子(TE)采集。它有一個雙傾斜標本級,傾斜範圍為+/-60度,允許在非平面的成像樣本時具有靈活性。它還提供了一個電動聚焦驅動器,允許用戶自動調整圖像的焦點而無需用戶直接交互。S-4700-II提供了許多圖像處理功能,例如實時圖像縫合、蒙太奇、自動粒子分析等。它還提供了廣泛的自動化功能,包括遠程訪問、自動獲取多個映像以及為遠程操作互連S 4700-II設備的能力。S 4700 II利用開源工作流應用程序AllView,它使用戶能夠輕松管理、分析和存檔大型數據集。AllView允許用戶與圖像交互、生成報告以及在用戶之間共享數據,從而提供對樣本和樣本的詳細了解。結合其先進的掃描、成像和處理能力,HITACHI S 4700-II是納米技術、材料科學和生物技術領域研究的寶貴工具,具有從單個細胞到復雜結構和材料的圖像樣本的能力。HITACHI S-4700-II為研究人員提供了一種功能強大、用戶友好的工具,可以以最高精度和分辨率對樣本進行成像和分析。
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