二手 HITACHI S-4700 II #293605918 待售

製造商
HITACHI
模型
S-4700 II
ID: 293605918
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 II是掃描電子顯微鏡(SEM)的模型.它是一種用於材料分析領域的高性能儀器。HITACHI S 4700 II提供了多種功能,使其非常適合各種應用,如樣品觀測、表面成分分析、元素分析和成像。S-4700-II有一個可變壓力室,允許它在高真空或可變壓力下進行SEM成像,允許用戶檢查儀器上的濕樣或松散樣品。它還具有Peltier元件冷卻階段,溫度範圍從-80˚C到100˚C.這樣就可以在不同溫度下獲取樣品的圖像,而不必將其轉移到另一個階段。該儀器還具有用於高分辨率成像和元素分析的高分辨率探測器。其次級(低真空)電子探測器具有大視野,非常適合大面積成像和元素分析。S 4700-II擁有高精度的電機系統,可提供令人印象深刻的穩定性和準確性,從而能夠以盡可能高的分辨率捕獲圖像。它配備了一系列自動化的舞臺和功能,允許用戶快速設置儀器,輕松進行分析。該儀器配有一系列軟件工具,便於樣品觀察和分析。除了標準掃描模式外,S 4700 II還提供各種高級功能,例如用於元素分析的能量色散X射線光譜(EDS)、用於低Z元素成像的反向散射電子成像(BSEI)以及用於透鏡和透鏡SE成像以提高圖像分辨率。總之,HITACHI S 4700-II是一種先進的掃描電子顯微鏡,具有多種特性和功能,非常適合材料分析中的一系列應用。它具有可變壓力室和Peltier元件冷卻階段,以及高分辨率探測器和軟件工具,便於樣品觀測和分析。儀器配備高精度電機系統,提供出色的穩定性和精度。它是研究人員和科學家尋找一種能夠提供高質量圖像和可靠數據的精密儀器的理想選擇。
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