二手 HITACHI S-4700 II #293814500 待售

製造商
HITACHI
模型
S-4700 II
ID: 293814500
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX detecting unit Stage control Trackball control ExB filter Critical Dimension (CD) measurement system Operating System (OS): Windows Column-mounted turbomolecular pump.
HITACHI S-4700 II是為高級顯微鏡應用而設計的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。顯微鏡的主要特點包括集成圖像捕捉設備、優越的能量分辨率、高達3000 ×的高分辨率成像、寬磁場、高壓光學、高分辨率成像的高壓指數(HVI)能力以及獨特的視覺外形設計(VFD)檢測器。此外,Visual Form Design與創新的「Nanowise」系統的結合優化了顯微鏡的成像能力。HITACHI S 4700 II的集成圖像捕獲單元提供高分辨率圖像和強大的圖像處理功能。它利用電子探測器和視覺形狀設計探測器兩種類型的探測器。電子檢測器是精細結構成像的理想選擇,而視覺形狀設計檢測器則允許大型結構的可視化。使用高壓光學器件,可以獲得更高分辨率的圖像。寬磁場的視場使用戶可以查看更大的區域。S-4700-II的高壓指數(HVI)功能可提供高達3000 ×的高分辨率成像。這使用戶能夠觀察和區分樣本中最小的細節。有了這個功能,用戶可以調整不同樣品的電壓和電流設置,獲得最佳效果。「Nanowise」機通過提供先進的圖像分析能力,進一步增強了顯微鏡的成像能力。S 4700-II采用獨特且用戶友好的Visual Form Design (VFD)檢測器,具有直觀的顯示屏,用戶可以輕松地從電子檢測器切換到VFD。VFD檢測器處理和增強圖像,使用戶更容易解釋圖像。此外,VFD的高級處理功能可減少圖像噪聲,從而使圖像可以更清晰地查看。總之,HITACHI S-4700-II是一種先進的掃描電子顯微鏡,專為先進的顯微鏡應用而設計。它集成了圖像捕捉工具、卓越的能量分辨率、高達3000 ×的高分辨率成像、寬磁場、高壓光學、高分辨率成像的高壓指數(HVI)功能以及獨特的視覺外形設計(VFD)檢測器。此外,Visual Form Design與Nanowise資產的結合增強了顯微鏡的成像能力。HITACHI S 4700-II提供出色的性能,使其成為各領域科學家和研究人員的理想選擇。
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