二手 HITACHI S-4700 II #293816532 待售
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ID: 293816532
優質的: 2001
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Energy‑Dispersive X‑ray (EDX)
Hard Disk Drive (HDD)
2001 vintage.
HITACHI S-4700 II是為各種材料的高分辨率成像而設計的掃描電子顯微鏡(SEM)。它能夠提供所有類型的表面的高度詳細的圖像,從單個粒子到薄膜,再到厚截面。HITACHI S 4700 II利用高壓電子光學和光學系統的獨特組合,在包括高分辨率二次電子成像、反向散射電子成像、環境和低溫成像、X射線能量色散分析、組成和元素映射等多種成像模式下提供卓越的圖像質量。S-4700-II包含了廣泛的高級成像功能。高分辨率成像是使用柱內二次電子探測器與大輸入面積大電流轉換器的組合完成的。這種強大的成像系統產生清晰、清晰、高精度和對比度的詳細圖像。此外,它具有獨特的反向散射電子檢測器組件,利用雙級電子光學系統實現反向散射電子圖像中的高對比度和分辨率。S 4700-II能夠進行環境和低溫成像。環境成像允許在自然環境中觀察樣品,包括在高溫和反應性大氣中,而低溫成像則允許在低至15K的溫度下觀察非導電樣品。S 4700 II具有能夠進行低真空和大氣壓成像的集成流體細胞,並已針對細胞、細菌和病毒等生物樣品成像進行了優化,而無需特殊樣品制備。此外,HITACHI S-4700-II能夠進行X射線能量色散分析和組成及元素映射。X射線探測器的設計能夠提供出色的分辨率、高靈敏度和高通量。它能夠映射元素的濃度,如碳、氮、硫、磷、鋁等金屬。然後可以使用這些地圖來確定樣品的組成和結構,以及提供對其機械、物理和化學性質的見解。S-4700 II提供了成像、分析和樣品制備的一系列綜合功能,使其非常適合材料分析、電路故障分析、微電子和納米技術研究、醫學成像和診斷以及生物樣品調查等用戶。
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