二手 HITACHI S-4700 II #9389830 待售

HITACHI S-4700 II
製造商
HITACHI
模型
S-4700 II
ID: 9389830
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-4700 II掃描電子顯微鏡(SEM)是一種先進的成像設備,用於廣泛行業的研發、質量保證和故障分析應用。它提供高分辨率成像,放大倍數可達30,000倍,操作放大倍數可達1.3至500,000倍。該系統配備了冷場發射槍(FEG),並有兩個電子光學系統的選擇,一個光單元和一臺高性能機器。HITACHI S 4700 II具有獨特的雙檢測器功能,使得兩個檢測器能夠同時操作。此功能提供了更好的測量精度、更快的分析和更少的處理時間。分析檢測器檢測器工具包括用於成分分析的反向散射電子檢測器和用於三維表面成像的二次電子檢測器。另一方面,光探測器資產由用於高速成像的光探測器和用於生物標本顏色映射的亮場探測器組成。S-4700-II還配備了帶有四元檢測器的能量色散X射線光譜儀(EDS)和自動對準模型。這增加了操作效率,使得不需要耗時的手動對齊。EDS允許元素映射分析、檢測和識別到原子水平的元素。借助這些高效的功能,HITACHI S-4700-II提供了高分辨率成像與高速數據處理相結合的最佳平衡。S 4700-II的自動噴槍光學設備具有自動跟蹤和精細對焦控制,可精確調節光束。此外,該系統還能夠實現脈沖模式成像和漂移補償(DSC),以減少高精度收集數據時常見的熱漂移。S-4700 II具有直觀的圖形用戶界面(GUI)和自動宏函數,可提高操作效率。GUI允許毫不費力地導航軟件,並從電路板或生物細胞等大型樣本區域獲取高度詳細的圖像。S 4700 II是需要高分辨率成像結合高效自動化和用戶友好操作的研究人員和工程師的理想掃描電子顯微鏡。憑借其精確度、速度和分析能力,HITACHI S 4700-II結合了先進的功能,提供了最佳的掃描電子顯微鏡體驗。
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