二手 HITACHI S-4700 Type II #293587272 待售

HITACHI S-4700 Type II
ID: 293587272
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 II型是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於提供標本的高分辨率成像,最大放大倍數可達30萬倍。它采用了一種新的抗振設計,以減少振動和提高圖像質量。HITACHI S 4700 TYPE II是一種模塊化設備,包括樣板、光學系統和漸進放大倍率。光學單元包括電子槍、柱透鏡、物鏡和成像機。樣品階段是可移動的,可以容納各種樣本量。漸進式放大功能提供詳細區域的高分辨率圖像,最大放大倍數可達30萬倍。內置的圖像分析功能允許快速、方便的數據處理和分析。S-4700 II型還配備了區域探測器和信號處理工具,以提高圖像質量。區域檢測器允許更廣泛的信號峰谷檢測範圍,而信號處理資產則允許進一步的信號處理、失真校正和各種視角。檢測器的信號處理提高了對比度和對比度分辨率,允許更詳細地查看樣本特征。此SEM允許用戶以對比度、亮度和放大視圖等各種圖像處理功能的組合捕捉樣品的明亮和對比度圖像。除了高分辨率成像外,S 4700 TYPE II還配備了寬視野成像模型。這種設備可以增加標本的聚焦深度,同時仍然提供高分辨率成像。寬視場允許從大面積捕獲樣本中的精細細節。它還具有對比度反演、對比度拉伸等多種對比度模式,可用於增強圖像對比度,揭示更精細的細節。HITACHI S-4700 II型還提供了多種標本制備方法。內置的濺射塗層可以均勻地塗覆標本表面,允許多層次的物質分析和增強的圖像質量。雙電離源可以進行化學物種分析,反向散射電子探測器可以對樣品進行詳細的地形分析。HITACHI S 4700 TYPE II是研究、分析和記錄極小標本的寶貴工具。憑借其先進的設計和功能,此SEM非常適合任何需要高分辨率成像和詳細樣品分析的應用。
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