二手 HITACHI S-4700 Type II #293602528 待售

ID: 293602528
優質的: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) Secondary electron resolution: 2.1 nm at 1 kV 1.5 nm at 15 kV and WD: 12 mm or X-ray analysis position Backscattered electron resolution: 3.0 nm at 15 kV with YAG detector Magnification: LM: 20-2,000x HM: 100-800,000x Specimen stage: X-Axis: 0-100 mm Y-Axis: 0-50 mm Z-Axis: 1.5-30 mm Tilt: -5 - +60° R: 360° Trackball operation 5-Axis motorization Vacuum: Diffusion pump 2001 vintage.
HITACHI S-4700 Type II是一種提供高分辨率成像的掃描電子顯微鏡(SEM)。此特定產品面向對各種電子材料(例如半導體、微型設備、電路板等)成像感興趣的用戶。這種顯微鏡使研究人員能夠以更高的分辨率觀察到比以往更多的細節。它利用一次和二次電子檢測,允許精確的圖像,即使在非常小的規模。HITACHI S 4700 TYPE II是一款包含風冷電子源的臺式機SEM,有助於維護一致成像,費力不大。顯微鏡的最大放大倍率高達2000倍,這導致圖像中的細節極為精細。這臺顯微鏡還具有多種旨在使成像過程更加平滑的功能,如低能反向散射電子探測器、高分辨率單色儀和機器人樣品支架設備。S-4700 II型能夠分析各種材料,無論樣品的厚度或表面拓撲。這個模型對需要分析任何厚度小於一微米的材料的研究人員是有利的。顯微鏡配備了多種傳感器和特點,如線掃描電子槍、25平面級系統、鉻塗層單元、廣角反向散射電子探測器和5軸操縱器。除了成像能力外,S 4700 TYPE II還能夠分析化學成分和電氣特性。內置光譜儀可用於獲取化學成分信息,二次電子探測機能夠以比以往更高的分辨率獲取詳細圖像。顯微鏡還包括分析表面電位的能力,使得HITACHI S-4700 Type II成為研究表面相關現象的有力工具。最後,HITACHI S 4700 TYPE II可以從幾乎任何地方進行遠程配置和控制,使其適合遠程監控。這使得它成為那些需要保持對SEM控制的人的理想選擇,即使他們遠離實驗室。S-4700第二類是一種先進的工具,旨在滿足那些需要小規模研究材料和物體的人的需要。它的特性和功能使其成為一種強大的工具,可在不犧牲準確性或質量的前提下,用於成像材料和獲取有用的信息。
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