二手 HITACHI S-4700 Type II #9234231 待售
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ID: 9234231
Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (CFE-SEM)
Resolution: 2.1 nm at 1 kV
Image mode: Secondary electron image
(2) Secondary electron detectors
OXFORD EDS Included.
HITACHI S-4700 Type II是一種掃描電子顯微鏡(SEM),提供卓越的成像能力,具有廣泛的分析功能。是科研、工業、實驗室應用的絕佳選擇。該設備配備了200kV鎢絲槍,具有大深度的野外探測器,可以對各種樣品進行詳細分析。高分辨率加上能夠對厚實樣品成像,使得HITACHI S 4700 TYPE II非常適合成像和分析各種材料,包括金屬、陶瓷和有機物。S-4700 Type II采用了最先進的數字成像系統,能夠存儲大量圖像以及合並、過濾、視頻錄制和縫合圖像等功能。它還具有智能搜索功能,可快速檢索保存的圖像。除了高分辨率彩色顯示器和用戶友好的觸摸屏界面外,S 4700 TYPE II還提供了簡單直觀的高質量成像效果。該單元還包括一些分析技術,包括X射線能量色散光譜(EDS)和二次電子(SE)成像,以提供關於樣品的綜合元素和化學信息。執行實時成像和動態圖像優化的能力確保了最佳圖像質量。除了標準的成像能力外,HITACHI S-4700 Type II配備了一個高吞吐量的自動化階段,可以一次處理多個樣本。舞臺可以在樣品之間快速移動,自動調整SEM電流和放大設置,產生精確幹凈的圖像。HITACHI S 4700 TYPE II的一個主要優點是其Portavis離子柱,它提供了優於其他SEM的離子束沈積精度和質量。該機器還與自動晶片卡盤兼容,該卡盤設計用於確保半導體分析過程中的完美平整度、提高精度和可重復性。最後,真空工具、He/Ar氣體混合物和低溫階段都是S-4700 Type II中包含的標準特征,為用戶準備樣品提供了多種選擇。總體而言,S 4700 TYPE II是任何需要卓越成像功能、自動化樣品處理和可靠分析功能的應用程序的絕佳選擇。HITACHI S-4700 Type II具有廣泛的特性和功能,能夠為各種材料提供可靠和準確的結果。
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