二手 HITACHI S-4700 Type II #9299922 待售

HITACHI S-4700 II型掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的研究儀器，用於在非常高的放大倍率下分析物體的微觀結構。顯微鏡產生的圖像種類繁多，從表面地形到樣品的內部結構，可以對其組成和性質進行深入分析。顯微鏡還提供了廣泛的輔助和分析電子。使用二次電子探測器，可以在非常高的放大倍率下了解表面特征。另一方面，分析儀探測器允許用戶檢測樣品中的光和化學元素。此外，能量色散光譜（EDS）設置進行X射線分析。顯微鏡配備了高靈敏度和精細分辨率的二次電子探測器，可檢測，並顯示一系列信息。高分辨率數碼相機可以讓用戶快速高效地捕捉圖像。HITACHI S 4700 TYPE II SEM包括全機動化、高真空能力的TGT（Target Gas Injection）設備。這一特征產生了一個更大的束，從而減少了束的發散和更緊密的電子束聚焦。儀器的光學系統能夠產生高達27mm的成像場，支持高達1840 x的放大倍數。此外，顯微鏡經過設計，提供了一個穩定和準確的工作面。為此，在采樣階段采用了柔和的曲線和小錐度。XYZ掃描儀、激光幹涉儀級和電動裝置使用戶能夠精確設置測量值。軟件中用戶友好的控制界面允許用戶快速、輕松地訪問SEM的參數。同時,掃描周期、掃描數據和掃描區域設置都可以立即更改。這臺機器使配置成像參數和觀察結果變得簡單。S-4700 II型 SEM的表面探測器還提供了所有3個維度的數據，可用於精確測量地形特征。此外,將視覺或圖形掩碼與位置適配器（PA）結合使用的可能性使用戶能夠執行特定於區域或線性的分析。總體而言,S 4700 TYPE II SEM是一種高級研究工具,可提供多種成像功能。憑借其快速的視覺反饋和高效的操作，顯微鏡適用於生物學、材料科學、半導體技術等領域的研究。