二手 HITACHI S-4700 Type II #9382370 待售

HITACHI S-4700 Type II是一種場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），用於成像、分析和測量各種樣品的圖像。這種類型的顯微鏡使用聚焦的電子束作為其來源，允許極高的放大倍率和分辨率高達500k ×。高度專業化的SEM在低真空模式和高真空模式下運行，並包括許多功能，以利用此類顯微鏡所提供的放大倍數。它的設計由陰極和柱組裝、二次電子源、樣品室和充當聚焦元件的電磁透鏡組成。HITACHI S 4700 TYPE II的掃描範圍高達500 ㎛,為樣品分析和成像提供了廣泛的可能性。為便於高放大成像,S-4700 II型具有冷場發射電子源、軸上分析能力和廣泛的視野。軸上分析功能提供了有關示例的廣泛信息。由於增加了分辨率、信號強度和靈敏度，可以進行元素組成、表面地形、叠層、晶體學結構和材料內部組成等結構分析。S-4700 II型車的分辨率和放大倍率令人印象深刻。X-y和z軸都能夠控制樣品相對於電子束的定位，以達到最精確的分辨率。低真空模式允許高達5K的×放大,而高真空模式則允許高達500K的×放大。除了高分辨率之外,S-4700 Type II還提供各種速度的成像功能。這種速度範圍允許一系列可能的實驗時間和樣品壽命，這是由於電束潛在損壞的限制。S-4700 II型上的分析包括自動獲取STEM圖像、信號強度控制、反向散射電子成像以及通過能量色散光譜（EDS）進行化學分析。這種高質量的成像、卓越的移動性和全面的分析能力的組合是任何其他SEM系統所無法比擬的。利用最新的FE-SEM技術,為需要最大分辨率和效率的用戶設計了S-4700 II型機。S-4700 Type II的特性和功能為研究人員、科學家和工程師提供了可靠的結果以及工業和實驗室中可靠的圖像。其先進而強大的技術使S-4700 II型車成為尋找最高質量影像的人的理想選擇。