二手 HITACHI S-4700 #9241883 待售

製造商
HITACHI
模型
S-4700
ID: 9241883
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm with 15 kV beam, 12 mm working distance 2.1 nm with 1 kV beam, 1.5 mm working distance Magnification: High mag mode: 100x - 500,000x Low mag mode: 20x - 2,000x Electron optics: Electron gun: Cold cathode field emission type Extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV Lens: 3-Stage electromagnetic lens Objective lens aperture: Movable aperture Self-cleaning thin aperture Astigmatism correction coil (stigmator): Electromagnetic type Scanning coil: 2-Stage electromagnetic deflection type Specimen stage: X Range: 0 to 25 mm Y Range: 0 to 25 mm Z Range: 1.5 to 26.5 mm Tilt range: -5 to 45 degrees Rotation: 360 degrees Spec. size: Maximum100 mm diameter Display options: Scanning speeds: Live viewing: 0.5 to 40 sec per frame Photo: 17 - 333 seconds per frame Electrical image shift: 15 um at 12 mm Evacuation system: Ultimate vacuum levels Specimen chamber: 7E^-4 Pa Electron gun chamber: 2E^-7 Pa at ion pump 1 Vacuum pumps: Electron optics: (3) Ion pumps Specimen chamber: Oil diffusion pump or turbo molecular pump (2) Oil rotary pumps Acoustic noise: Less than 65 dB Dielectric voltage-withstand: 1500 VAC/1 min Microscope control OS: Windows XP Does not include EDAX.
HITACHI S-4700是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於可視化納米級物體和材料。它提供具有無與倫比的圖像清晰度的高分辨率圖像,與傳統的實驗室光學顯微鏡相當,不需要應用造影劑。SEM在兩種模式下運作:掃描模式和點模式。在掃描模式下,電子槍發射出均勻的電子束,並通過一系列電磁透鏡聚焦在樣品上。當光束掃描樣品時,電子被反向散射收集,然後在電子探測器中被檢測到。這允許以超高分辨率形成樣品的數字圖像。Point Mode SEM產生一個緊密聚焦的電子束,可用於定位和分析樣品上各個感興趣的區域,並生成目前特征的極高分辨率圖像。這使用戶能夠對尺寸、形狀和其他特性進行精確的測量。HITACHI S 4700還具有各種探測器配置和先進的成像方法,使用戶能夠觀察到種類繁多的材料及其特性。SEM的內置分析能力包括電子能量損失光譜(EELS)和能量色散X射線光譜(EDS)。使用EELS,用戶可以利用來自加速電壓的散射電子來測量電子的能量損失,並識別構成樣品的原子。利用EDS,從樣品發出X射線,提供樣品組成的元素信息。S-4700與所有HITACHI成像系統無縫配合使用,使用戶能夠快速輕松地執行成像、分析和數據處理。控制器和軟件提供自動化操作,使用戶能夠快速識別、測量和分析樣本上的特征並導出結果。S 4700是從事納米技術、材料科學、生命科學領域研究實驗室的理想工具;以及產生高度精確的納米級圖像和數據。
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