二手 HITACHI S-4700 #9245498 待售

HITACHI S-4700掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能的電子顯微鏡模型，能夠以納米尺度檢測樣品的質量和表面。作為SEM的HITACHI頂級型號之一,HITACHI S 4700為需要高分辨率、高性能顯微鏡的研究人員、生產商和制造商提供了多種功能。該儀器提供了多種圖像捕捉技術，最顯著的是它的二次電子成像模式，它提供了納米尺度的粒子、粒子簇和纖維。這一特征得到了SNMS（二次中性質譜）技術的幫助，允許從幾乎任何樣本中生成化學信息。SEM模式（High Angle Angle Anlular Dark Field SEM）允許分析在低加速電壓下具有納米級橫向分辨率和高檢測效率的物體，這得益於超高壓探測器。此外,S-4700允許通過其EDX（能源色散X射線分析）功能對各種元素進行分析。結合其定制設計的X射線探測器，有助於生成準確的數據，提高樣品檢驗效率。S 4700還提供各種自動化功能,以簡化樣品工作流程,如自動膠片尺寸識別、舞臺漂移預防和Z-shift補償。此外，HITACHI S-4700具備一系列先進的硬件、軟件和成像設備功能，使研究人員能夠分析幾乎任何表面或樣本。此外，該車型還有自己內置的樣品制備系統；一種有助於準備成像標本的特征。其他樣品制備特征包括冷凍-SEM用液氮的持有人和液體樣品用濕式標本細胞，以獲得預凍圖像。結合這些獨特的功能,該型號具有直觀的控制單元和觸摸屏,用戶可以輕松直觀地操作該單元。此外,HITACHI S 4700還集成了一種新穎的X-Y導航機器,它將2D和3D導航集成在一個單元中。這增加了模型的靈活性,允許用戶將相同的SEM用於2D或3D成像作業。總體而言,S-4700為用戶提供了多種創新解決方案,並且在掃描電子顯微鏡方面處於行業領先地位。它能夠將速度、準確性和精確度結合起來，成為材料科學、質量控制和實驗室工作的寶貴工具。S4700具有易用性和先進的成像功能,並結合了通用的掃描模式,是需要高性能SEM的項目的理想工具。