二手 HITACHI S-4800 Type II #9309410 待售

HITACHI S-4800 Type II
ID: 9309410
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4800 II型掃描電子顯微鏡(SEM)是為常規和專門成像應用而設計的先進成像工具。該SEM具有二級和反向散射電子探測器以及最大樣本量為108 mm的X-Y級。它配備了EverReady PC和基於Windows的軟件,用於顯微鏡的最佳控制。HITACHI S 4800 TYPE II SEM能夠對尺寸範圍內的樣品進行盡可能高分辨率的成像。這是使用能量色散X射線分析儀(EDX)實現的,該分析儀使用能量濾波器測量發射的X射線,使其能夠以30納米的最高空間分辨率進行元素分析和快速空間分辨率成像。它配備了一個內置的電動系統,使其能夠成像具有高分辨率和低噪聲的樣本。除了X-Y級之外,S-4800 II型 SEM還具有兩個附加級-旋轉級和傾斜級。這些階段用於在成像過程中旋轉和傾斜樣品。傾斜級的傾斜範圍±為20°,在取樣方向上具有足夠的靈活性。S 4800 TYPE II SEM還配備了能夠在不同模式下進行聲音操作和分析的軟件包。該軟件允許通過合並亮度和對比度等各種成像參數來增強成像,並為次級電子探測器和反向散射電子探測器提供控制。該軟件還支持在多監視器模式下進行映射和分析。要為HITACHI S-4800 II型 SEM供電,需要交流插座電壓為220V。該系統還配備了真空系統發生器,確保真空保持在恒定水平,從而實現高質量成像。可達到的最大真空水平為5 x 10-10 Torr。HITACHI S 4800 TYPE II SEM是一種功能強大的成像工具,可以協助各種研發項目。其能力包括標本成像和元素分析,以及專門的成像模式和軟件,用於多監視器制圖和分析。它提供了良好的分辨率和可靠的操作在所有的真空條件所需的最佳操作。
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