二手 HITACHI S-4800 Type II #9389453 待售

ID: 9389453
晶圓大小: 12"
優質的: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" Secondary electron image resolution: 1.0 nm (15 kV, WD: 4 mm) Deceleration mode: 1.4 nm (1 kV, WD: 1.5 mm) Normal mode: 2.0 nm (1 kV, WD: 1.5 mm) Magnification: LM Mode: 20x ~ 2,000x HM Mode: 100x ~ 800,000x Specimen stage: Stage motorization: 5-Axis motorized Type II: X: 0 mm - 110 mm Y: 0 mm - 110 mm Z: 1.5 mm - 40 mm T: -5 mm - +70°C R: 360° Includes: Keypad Trackball BSE STEM EDX Chamber camera Operating system: Windows XP 2004 vintage.
HITACHI S-4800 Type II是一種掃描電子顯微鏡(SEM),以優異的性能和分辨率,以及極端的多功能性而聞名。它是一種場發射型SEM,意味著它使用電子槍,利用高電流驅動的鎢絲發射一小束電子束。HITACHI S 4800 TYPE II能夠在低真空和高真空模式下運行,允許對未塗層樣品成像。這種能力使得它特別適合於成像有機和生物樣品。它還具有0.15至3.00 keV的低壓運行,擴大了可能成像目標的範圍。SEM配備了混合二次電子探測器,用於捕獲二次電子。這些是當主要電子束與樣品表面相互作用時產生的電子。它可以用於研究和分析從半導體到生物材料的各種樣品。S-4800 II型還提供可變形狀光束技術,或V-SEM。這使用戶能夠控制主梁的形狀和大小,與典型的SEM相比,主梁的分辨率提高了15倍。V-SEM可提高分析的靈活性,提高某些成像的速度。它配備了手動和自動兩個階段,並且能夠使用新開發的樣品單元移動控制器進行自動細胞成像。控制器可以在SEM運行期間移動樣本,從而可以拍攝更大範圍的自動示例圖像。S 4800 TYPE II是為優化樣品觀測和制備而設計的。它配備了鏡頭內或環境STEM檢測器,使其能夠在低真空和高真空模式下提供無與倫比的樣品成像。它能夠檢測原子序數大於5的元素。HITACHI S-4800 Type II是一種高度通用且功能強大的SEM,旨在優化各種樣品的研究和分析。它的可變形狀光束技術、低壓操作以及鏡頭內和環境STEM探測器使其成為生物和有機樣品成像的理想選擇。
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