二手 HITACHI S-4800 #9213997 待售

HITACHI S-4800
製造商
HITACHI
模型
S-4800
ID: 9213997
優質的: 2010
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM) With EDX system Sample loading systems: Transfer sample in inert gas vessel Secondary electron image resolution: 1.0nm at 15 kV, WD=4mm 1.4nm at 1 kV, WD=1.5mm Declaration mode: 2.0nm at 1 kV WD: 1.5mm Normal mode Magnification: LM Mode: 20x – 2,000x HM Mode: 100x – 800,000x Stigmator: Octopole electromagnetic Scanning coil: 2-Stage electromagnetic electron optics Electron gun: Cold cathode field emission source Lens type: 3-Stage electromagnetic lens reduction system Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable Sample chamber: Size: Type I stage Max sample size: Diameter, 4" (100mm) Stage motion: 3-Axis motorized X/Y: 0-50mm R: 360 Deg continuous Display system: Image display Full screen: 1,280 x 960 pixels Dual display Scanning speed: TV: 25/30x2 frame/s Fast: 6.25/7.5x2 frame/s Slow: 1/4/20/40/80 s/frame or 5/2/10/20/40 s/frame Signal selection: SE Signal X-Ray signal AUX Signal Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control Ultimate vacuum: Electron gun chamber: 10-7 Pa Specimen chamber: 10-4 Pa (3) Pumps: Ion pump Turbo pump Oil rotary pump Includes: HORIBA 7593-H EMAX EDS/X system, 2010 Detection area: 30mm² Window: ATW2 Resolution at 5.9 keV: 133eV Vacuum pump: ULVAC GLD-136 Chiller: Eyela cool ace CA-1111 UPS Operation manuals 2010 vintage.
HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡(SEM)是一種適用於各種材料表征應用的高性能多功能顯微鏡。HITACHI S 4800利用專用的超高真空和全新設計的閃爍器類型提供卓越的分辨率和圖像質量。S-4800使用肖特基場發射電子槍,產生亮度和近束散度較高的電子。光束電流在很長一段時間內保持在高水平,即使放大倍數也能產生高分辨率的圖像。電子槍與新設計的閃爍體型耦合,產生的信噪比比常規閃爍體高幾倍。S 4800還配備了鏡頭內二次電子探測器。這產生的二次電子圖像比在樣品級的背面使用額外的檢測器所能達到的更高清晰度。它也適用於一系列成像條件,甚至可以在低加速電壓或高加速電壓下使用。為了確保高放大倍率下的穩定性能,HITACHI S-4800配備了一個環境室,可最大程度地減少外部振動的影響。低溫操作模式允許在沒有明顯熱漂移的情況下檢測到低能二次電子。HITACHI S 4800還具有從1 x 10-6 torr的超高真空到4 x 10-2 torr的高真空等多種真空水平,可以進行多種樣品制備、觀察和分析技術。一個自動化的樣品更換器和高級控制系統適用於需要頻繁使用的研究人員以及使用多個樣品的研究人員。控制系統可實現自動化操作和數據分析,從而提高研究效率。S-4800是一種功能強大、用途廣泛且可靠的掃描電子顯微鏡,適用於一系列材料表征應用。其卓越的檢測和成像能力使其成為需要最高質量圖像和數據的研究人員的絕佳選擇。
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