二手 HITACHI S-4800 #9254505 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 9254505
優質的: 2008
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Secondary electron image resolution:
1.0 nm at 15 kV, WD: 4 mm
1.4 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm
Declaration mode 2.0 nm at 1 kV, WD: 1.5 mm, Normal mode
Magnification:
LM Mode: 20x - 2,000x
HM Mode: 100x - 800,000x
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-Stages electromagnetic electron optics
Electron gun: Cold cathode field emission source
Lens type: 3-Stages electromagnetic lens reduction system
Objective aperture: Variable type 4 position externally selectable
Sample chamber:
Size: Type I stage
Max sample size: Diameter, 4"
Stage motion:
3-Axis motorized
X/Y: 0-50 mm
Rotation: 360°
Display system:
Image display:
Full screen: 1,280 x 960 Pixels
Reduced area: 640 x 480 Pixels
Reduced area: 320 x 240 Pixels
(2) Dual images: 640 x 480 Pixels
Scanning speed:
TV (25/30 x 2 frame/s)
Fast (6.25/7.5 x 2 frame/s)
Slow (1/4/20/40/80 s/frame / .5/2/10/20/40 s/frame)
Signal selection:
SE Signal
X-Ray signal
AUX Signal
Vacuum system: Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum:
10^-7 Pa in electron gun chamber
10^-4 Pa in specimen chamber
(3) Ion pumps
Turbo pump
Oil rotary pump
Includes:
UPS
ULVAC GLD-136 Vacuum pump
EYELA Cool Ace CA-1111 Chiller
Operation manuals included
2008 vintage.
HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大的儀器,它結合了二次電子和反向散射電子兩種成像方式來產生樣品表面的高分辨率圖像。HITACHI S 4800設備配備了廣泛的特性和尖端技術，包括較大的工作距離和先進的離軸電子光學。S-4800提供高分辨率和放大倍率,從不到1 nm到超過500 nm,非常適合各種應用。該系統配備了最新的離軸透鏡，允許較大的工作距離，並且可以發射多達10kV個電子。它還具有自動聚焦能力，可以投影高對比度的圖樣圖像。該單元的可膨脹腔室體積和柔性級允許研究更大和更厚的樣品最多200毫米。樣品階段可以在室內打開810毫米，方便觀察更大和更厚的樣品。S 4800具有強大的場發射源（Field Emission Source，FE-SEM），具有獨特的X射線源，允許從電子和離子同時生成X射線信號。該特征有利於樣品表面的定性和定量表征。HITACHI S-4800專為最佳性能而設計,可實現低噪聲和高分辨率成像。機器上的電子設備設計具有很高的穩定性，提供可靠的性能和可靠的結果。HITACHI S 4800工具還配備了先進的高速成像資產，使用戶能夠捕獲高幀率圖像。該模型還具有全方位的標本分析成像工具，如表面映射、數字圖像蒙太奇、3 D成像、晶粒識別、物體識別、粒子計數、表面積測量、厚度測量等。最後，S-4800的人性化設備使其易於導航和控制。直觀的觸摸屏界面和全面的用戶手冊使S 4800成為理想的SEM解決方案。
還沒有評論